期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
减少多种子内建自测试方法硬件开销的有效途径 被引量:10
1
作者 李立健 赵瑞莲 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2003年第6期662-666,672,共6页
提出一个基于重复播种的新颖的BIST方案 ,该方案使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 ;通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 实验表明 ,该方案需要外加硬件少 ,测试施... 提出一个基于重复播种的新颖的BIST方案 ,该方案使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 ;通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 实验表明 ,该方案需要外加硬件少 ,测试施加时间较短 ,故障覆盖率高 ,近似等于所依赖的ATPG工具的故障覆盖率 在扼要回顾常见的确定性BIST方案的基础上 ,着重介绍了文中的压缩存储硬件的方法。 展开更多
关键词 存储压缩 故障覆盖率 寄存器 集成电路 电路测试 多种子内建自测试
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部