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减少多种子内建自测试方法硬件开销的有效途径
被引量:
10
1
作者
李立健
赵瑞莲
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2003年第6期662-666,672,共6页
提出一个基于重复播种的新颖的BIST方案 ,该方案使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 ;通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 实验表明 ,该方案需要外加硬件少 ,测试施...
提出一个基于重复播种的新颖的BIST方案 ,该方案使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 ;通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 实验表明 ,该方案需要外加硬件少 ,测试施加时间较短 ,故障覆盖率高 ,近似等于所依赖的ATPG工具的故障覆盖率 在扼要回顾常见的确定性BIST方案的基础上 ,着重介绍了文中的压缩存储硬件的方法。
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关键词
存储压缩
故障覆盖率
寄存器
集成电路
电路
测试
多种子内建自测试
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题名
减少多种子内建自测试方法硬件开销的有效途径
被引量:
10
1
作者
李立健
赵瑞莲
机构
中国科学院自动化研究所国家专用集成电路工程中心
北京化工大学计算机科学与技术系
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2003年第6期662-666,672,共6页
基金
国家自然科学基金 ( 60 173 0 42 )资助
文摘
提出一个基于重复播种的新颖的BIST方案 ,该方案使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 ;通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 实验表明 ,该方案需要外加硬件少 ,测试施加时间较短 ,故障覆盖率高 ,近似等于所依赖的ATPG工具的故障覆盖率 在扼要回顾常见的确定性BIST方案的基础上 ,着重介绍了文中的压缩存储硬件的方法。
关键词
存储压缩
故障覆盖率
寄存器
集成电路
电路
测试
多种子内建自测试
Keywords
linear feedback shift register
seed
random pattern resistant fault
don't care bit
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
减少多种子内建自测试方法硬件开销的有效途径
李立健
赵瑞莲
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2003
10
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