基于FPGA的实验室常用芯片测试仪

针对电子技术实验无法进行多芯片同时测试的问题,提出了一种基于FPGA和上下位机联动配置技术的智能式多芯片测试方案。该方案实现了同一插槽测试不同芯片和集成电路测试台上多个芯片同时测试的功能。介绍了Verilog硬件描述语言编程下载和上位机控制方法与实现技术,有效解决了实验室常用芯片中不同类型芯片电源管脚上电的难题,利用FPGA器件实现了低功耗和系统可再编程升级,对于提高高校电子技术基础实验的水平和效率具有重要的实用价值。

基于Castle型机械手的三温量产测试平台实现

本文首先阐述了雷达用射频接收芯片对于三温量产测试迫切需要,接着对三温量产测试的实现平台进行了详细介绍,包括自动测试系统和机械手。阐述了关键连接硬件测试板和配套件的设计和实现,自动测试系统的测试程序开发和机械手的软件设置。引入多芯片的并行测试,优化完善测试程序,有效的提高了测试效率,降低了测试成本,仍需克服带来的相关影响,提高量产测试技术。