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基于反射率探测的多记录层相变可擦重写光学存储技术
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作者 胡磊力 《电光与控制》 北大核心 1999年第2期24-31,共8页
对多记录层光学存储技术进行了详细的论述。提出了采用探测反射率来实现三维光学存储的新方案。研究可擦重写存储介质的特性。为系统的实现提供了较为完善的设计思路。为实现三维光学存储奠定了坚实的基础。
关键词 光学存储 可擦重写 多记录层 反射率探测
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记录技术与设备
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《电子科技文摘》 1999年第10期55-55,共1页
Y99-61507-1605 9915406高密度光盘的 Volterra 模型=A Volterra model for thehigh density optical disc[会,英]/Agarossi,L.& Canel-la.A.//1998 IEEE International Conference on Acous-tics,Speech and Signal Processing,Vol... Y99-61507-1605 9915406高密度光盘的 Volterra 模型=A Volterra model for thehigh density optical disc[会,英]/Agarossi,L.& Canel-la.A.//1998 IEEE International Conference on Acous-tics,Speech and Signal Processing,Vol.3 of 6:DigitalSignal Processing.—1605~1608(HG)9915407基于反射率探测的多记录层相变可擦重写光学存储技术[刊]/胡磊力//电光与控制.—1999,(2).—24~31(V)对多记录层光学存储技术进行了详细的论述。提出了采用探测反射率来实现三维光学存储的新方案。研究相变可擦重写存储介质的特性。为系统的实现提供了较为完善的设计思路。为实现三维光学存储奠定了坚实的基础。 展开更多
关键词 技术与设备 多记录层 存储技术 反射率 可擦重写 光学存储 设计思路 高密度光盘 新方案 相变
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