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HgCdTe多载流子体系的定量迁移率谱分析 被引量:4
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作者 桂永胜 郑国珍 +1 位作者 张新昌 褚君浩 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第12期913-918,共6页
本文利用定量迁移率谱分析技术,通过研究样品霍尔系数和电阻率对磁场强度的依赖关系,获得了样品中参与导电的电子和空穴的浓度和迁移率,结果表明了定量迁移率谱分析方法具有很高的准确性和可靠性,并且它对样品中少子的贡献非常敏感.
关键词 红外探测器 多载流子体系 定量迁移率 谱分析
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HgCdTe多载流子体系的迁移率谱分析
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作者 桂永胜 郑国珍 +1 位作者 郭少令 褚君浩 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第5期327-332,共6页
通过迁移率谱分析法对LPE和MBE生长的n-HgCdTe样品进行了研究,获得了样品中体电子、体空穴以及界面电子的迁移率和浓度.
关键词 迁移率谱 多载流子体系 汞镉碲 红外探测
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