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题名槽栅IGBT硅化物自对准技术研究
被引量:2
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作者
袁寿财
朱长纯
刘君华
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机构
西安交通大学电子与信息学院
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出处
《电子器件》
CAS
2002年第4期420-423,共4页
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基金
国家自然科学基金 (60 0 3 60 16
5 0 0 770 16)
博士点基金 (CETD0 0 -10 )资助
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文摘
本文设计了一种全自对准的槽栅 IGBT(绝缘栅双极晶体管 )结构 ,其工艺简单 ,全套工艺只有两张光刻版 ,是现有 IGBT工艺中最少的 ,而且两次光刻之间没有套刻关系 ,避免了套刻误差 ,提高了工艺成品率。同时 ,降低了制版费用和制造成本。设计了一种独特的 IGBT多重沟道短路结构 ,有效的防止闩锁。用氧化层硬掩膜和先进的硅化物工艺实现金属接触全自对准 ,可使元包尺寸减小到 2μm甚至更小 ,增加了 IGBT芯片单位面积的元包密度和沟道宽度 ,提高了电流 ,使器件导通电阻低于 0 .2 3mΩ / cm2 。用砷 (As)掺杂代替磷 (P) ,可有效提高源区表面浓度 ,实现浅结工艺。
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关键词
IGBT
槽栅
全自对准
硅化物
多重沟道短路
绝缘栅双极晶体管
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Keywords
IGBT
trench gate
process
fully self aligned
silicided
multiple channel short
fabrication
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分类号
TN322.8
[电子电信—物理电子学]
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