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适用于嵌入式五口SRAM的多频率内建自测电路
1
作者
华林
王佳静
+1 位作者
俞军
章倩苓
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第3期270-275,共6页
提出了一种多频率带有扫描链的 BIST方案 ,用于五口的 32× 32嵌入式 SRAM的可测性设计。分析了多口 SRAM的结构并确定其故障模型 ,在此基础上提出了一种名为“对角线移动变反法”( OMOVI)的新算法及其电路实现。与传统的“移动变...
提出了一种多频率带有扫描链的 BIST方案 ,用于五口的 32× 32嵌入式 SRAM的可测性设计。分析了多口 SRAM的结构并确定其故障模型 ,在此基础上提出了一种名为“对角线移动变反法”( OMOVI)的新算法及其电路实现。与传统的“移动变反法”( MOVI)相比 ,在保证故障覆盖率前提下 ,测试图形的测试步数由原来的12 N log2 N减小为 N/ 2 +2 N log2 N( N为 SRAM的容量 )。该方案集功能测试、动态参数提取和故障分析定位于一体 。
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关键词
嵌入式SRAM
多频率内建自测电路
寄存器堆
扫描链
可
测
性设计
存储器
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职称材料
题名
适用于嵌入式五口SRAM的多频率内建自测电路
1
作者
华林
王佳静
俞军
章倩苓
机构
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第3期270-275,共6页
文摘
提出了一种多频率带有扫描链的 BIST方案 ,用于五口的 32× 32嵌入式 SRAM的可测性设计。分析了多口 SRAM的结构并确定其故障模型 ,在此基础上提出了一种名为“对角线移动变反法”( OMOVI)的新算法及其电路实现。与传统的“移动变反法”( MOVI)相比 ,在保证故障覆盖率前提下 ,测试图形的测试步数由原来的12 N log2 N减小为 N/ 2 +2 N log2 N( N为 SRAM的容量 )。该方案集功能测试、动态参数提取和故障分析定位于一体 。
关键词
嵌入式SRAM
多频率内建自测电路
寄存器堆
扫描链
可
测
性设计
存储器
Keywords
design for test
BIST
register file
scan chain
fault model
diagonal moving inversion
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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作者
出处
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1
适用于嵌入式五口SRAM的多频率内建自测电路
华林
王佳静
俞军
章倩苓
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2003
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