一种可实现电子散斑干涉的新型大错位方棱镜

设计了一种可实现电子散斑干涉的大错位方棱镜。将普通方棱镜的一个面磨去一个楔角后变为斜面,该斜面和相邻的一个面镀反射膜,其他二个面镀增透膜。垂直入射的光线经过分光后变成二束光,分别经过平面反射和斜面反射,出射的二束光线就分开了。将该大错位方棱镜置于CCD镜头前,一个物体可以成二个错位的像;相邻的二个物体可叠加成像。错位量由楔角决定,错位量足够大,可实现大错位电子散斑干涉。根据试件大小和成像距离,楔角的大小可选择在1°到10°之间。对中心加载周边固定圆盘进行了电子散斑载频干涉实验,证明了大错位方棱镜能够高质量地实现电子散斑干涉,实现位移场测量。

基于大错位方棱镜的三维载频电子散斑干涉技术

提出了一种利用载频电子散斑干涉测量三维位移场的新技术。首先,设计了一种新型的大错位方棱镜,利用该方棱镜可实现大错位电子散斑干涉。其次,被测物和参考物由布置在水平和竖直位置上的3个激光光源分别照明,三维电子散斑干涉系统由3个激光器、大错位方棱镜、CCD和参考物面组成。参考物面的一次偏转可同时引入3个干涉场的载波条纹。分别采集3个激光器照明下物体形变前后及参考物面偏转后的散斑干涉图样,图像相减后得到不同照明条件下的载波条纹和受形变调制的载波条纹。结合傅里叶变换方法,可解调出形变场的相位,进一步计算得到3个位移分量。利用该三维测量系统对三点弯曲梁进行了典型实验,实验结果表明,该系统可以有效的同时测量形变场的3个位移分量。具有光路简单,操作相对简单的优点,为电子散斑干涉三维测量提供了新的途径。

面内和离面位移场的电子散斑检测技术改进

提出并验证了一种新的测量物体面内和离面位移场的电子散斑检测技术.和传统的采用渥拉斯顿（Wollaston）棱镜的散斑检测技术相比,该技术的改进不仅仅从产生机制上增加了干涉光束的光强度及干涉条纹的清晰度,更从根本上解决了传统实验成本的增加.另外,本文不仅从理论上剖析了该技术的原理以及实现过程,更进行了典型实验,从而验证了所提出方法的有效性.