基于子单元级冗余的VLSI成品率优化设计方法

利用最优化思想描述了子单元级冗余的最优分配模型 ,用遗传算法给出了全局最优解 .该模型中考虑了影响成品率的两个因素 :缺陷的平均密度 D和支撑电路的面积占单元总面积的比率δ.通过实例分析得到 ,在D保持不变时最优冗余分配数随δ的增加在减少 ,单元的成品率随δ的增加在下降 ;在δ保持不变时最优冗余分配数随D的增加而增加 ,单元的成品率随D的增加在下降 .