致密砂岩孔喉大小表征及对储层物性的控制——以鄂尔多斯盆地陇东地区延长组为例

孔喉大小是评价储层质量的重要因素,而致密砂岩储层孔喉分布较强的非均质性使其表征难度较大。在分析目前孔喉表征方法的基础上,通过场发射扫描电镜、高压压汞和恒速压汞等实验,研究了鄂尔多斯盆地陇东地区延长组7段致密砂岩储层孔喉大小分布特征及其对储层物性的控制作用。结果表明:储层孔隙类型主要为剩余粒间孔、溶蚀孔、微孔和少量微裂缝;高压压汞表征孔喉的大小分布在0.014 8~40μm,大于1μm的孔喉分布较少;恒速压汞测试表明对于不同物性的样品其孔隙半径分布相对集中,主要分布在80~350μm;喉道半径则表现出较强的非均质性,分布在0.12~30μm;高压压汞和恒速压汞结合有效地表征了致密砂岩储层整个孔喉分布特征,孔径分布在0.0148~350μm。储层渗透率主要由比例较小的大孔喉(大于R_(50))所控制,对于渗透率大于0.1 mD的致密砂岩,其渗透率主要由微孔和中孔所控制,而小于0.1 mD的致密砂岩则主要由纳米孔和微孔所控制;此外,小孔喉的比例随着渗透率的减小而增加,虽然其对渗透率影响较小,但对储层储集性的影响却十分重要。

致密砂岩孔隙演化及其对含油饱和度的影响——以鄂尔多斯盆地甘泉地区三叠系延长组长6—长8段储层为例

致密砂岩储层的微观非均质性强,含油饱和度变化大。为了探究致密砂岩储层成岩过程中孔喉大小分布的变化及其对含油饱和度的影响,以鄂尔多斯盆地甘泉地区三叠系延长组长6—长8段致密砂岩储层为例,利用铸体薄片、扫描电镜、高压压汞等测试手段,定量计算了成岩作用对孔隙度的影响。在此基础上,以孔喉参数的统计模型为约束条件,建立了主要成藏期孔喉大小分布模型,利用积分方法计算出了主要成藏期的可动流体饱和度。甘泉地区长6—长8段致密砂岩储层在早成岩期—中成岩期受到强烈的压实作用,平均压实减孔率为81.85%,胶结作用进一步使孔隙度平均降低11.00%左右,溶蚀作用虽然增加了孔隙空间,但增幅较小,平均为4.38%;主要成藏期开始(128 Ma)和结束(111 Ma)对应的平均古孔隙度分别为13.82%和8.68%,大于最小流动孔喉半径(0.1μm)的孔喉体积占比低,可动流体饱和度为35.05%~93.27%。主要成藏期孔喉半径及可动流体饱和度偏低是含油饱和度低的原因之一。受储层自生黏土矿物对岩石润湿性的影响,现今含油饱和度值并未急剧降低。成藏时期孔喉大小分布模型计算油层可动流体饱和度为研究类似地区油气储层孔喉大小演化及其与含油饱和度的关系提供了一种可行的分析方法。

砂岩夹层储层分级评价及展布特征——以松辽盆地长岭凹陷大情字井地区青山口组一段为例

松辽盆地南部青山口组一段夹层型页岩油具有良好的勘探潜力,其夹层品质对含油性及产能影响大。然而,夹层物性呈现较强的非均质性,急需对夹层储层进行表征与描述,建立一套适合夹层储层的分级方案。通过场发射扫描电镜、高压压汞、核磁共振等实验对储层进行表征,基于压汞分形理论,建立适用于砂岩夹层的储层物性分级标准,结合测井资料对储层物性参数进行预测,进而刻画夹层优质储层平面展布。研究表明:根据源岩成熟度的差异,松辽盆地南部大情字井青一段可分为低熟区(R_(o)<1.0%,R_(o)为镜质体反射率)和中高熟源岩区(R_(o)>1.0%),夹层物性随烃源岩成熟度增大而变差。根据储层物性差异特征,分区块建立了夹层物性分级标准,将砂岩夹层分为Ⅰ—Ⅲ类和无效储层;由Ⅰ类储层到无效储层的大孔含量和中孔含量依次变少,储集空间由粒间孔、粒间溶蚀孔过渡至粒内溶蚀孔和晶间孔;压汞形态由弱平台型、缓直线型过渡至上凸状,储层含油性逐渐变差。优质夹层“甜点”主要沿着河口坝主体、水下分流河道等沉积微相分布,厚度自西南向东北方向减薄。研究成果为该区青山口组一段夹层型页岩油“甜点”优选提供重要支撑。

吉木萨尔凹陷芦草沟组页岩储层物性分级评价

对页岩储层进行表征与描述进而建立一套适合页岩储层的分级方案,能够为芦草沟组页岩油开发提供重要依据.本文以吉木萨尔凹陷芦草沟组页岩油储层为例,结合场发射扫描电镜、高压压汞、核磁共振等实验手段对储层进行表征,基于高压压汞分形的理论对孔喉进行分区,并对不同区间孔喉聚类分析实现储层分类,认为Ⅰ类储层到Ⅳ类储层到无效储层,其可动油饱和度依次减小.研究结果表明:1)对压汞曲线进行分形,确定压汞曲线的拐点在0.98,7.35,49.00 MPa附近,对应孔喉半径分别为750,100,15 nm.2)芦草沟组页岩油储层孔喉可划分为微孔(<15 nm)、小孔(15~100 nm)、中孔(100~750 nm)和大孔(>750 nm)4类.3)根据其含量并结合物性将储层分为Ⅰ~Ⅳ储层和无效储层5类:Ⅰ类储层(?>14%,K>0.08 mD)、Ⅱ类储层(12%<?<14%,K>0.014 mD)、Ⅲ类储层(8%<?<12%,K>0.014 mD)、Ⅳ类储层(5%<?<8%,K>0.005 mD)、无效储层(?<5%,K<0.005 mD).由Ⅰ类储层至无效储层大孔和中孔含量依次变少,小孔呈现先增加后降低的趋势;储集空间由残余粒间孔、粒间溶孔、粒内溶孔过渡为晶间孔和微裂缝;压汞形态由陡直线状、缓平台状、缓直线状过渡为上凸状;T2谱形态由双峰型、粗单峰型过渡为弱双峰型,储层流体可动性由好变差.