基于圆拟合的孔系中心坐标高精度检测方法研究

介绍了一种基于线阵CCD的工件表面孔系中心坐标高精度非接触式测量系统 ,并详细讨论了根据最小二乘法原理用圆拟合识别孔中心的方法。这种方法解决了测量系统两个方向上分辨率不一致的固有缺陷 ,同时较好地克服了测量过程中各种干扰因素对检测精度的影响 ,使圆心识别精度达亚像素级。