龙芯2号微处理器浮点除法功能部件的形式验证

基于决策图的字级模型检验方法虽然能完全验证运算电路,但它从有缺陷的设计中发现系统规范的反例所需时间较长.而基于SAT的有界模型检验方法虽然能较快地发现反例,但它不支持包含数学公式的系统规范,因而难以用于验证运算电路.提出了基于SAT的字级模型检验方法,该方法将CNF扩展为能混合布尔公式和数学公式的E-CNF用以表示设计和系统规范,并对有界模型检验工具和SAT求解器进行字级的扩展,使它们能分别生成和处理E-CNF.龙芯2号微处理器浮点除法功能部件验证同时采用了基于PHDD和基于SAT的字级模型检验方法.数据表明,基于SAT的字级模型检验方法能快速地发现运算电路中的设计缺陷.两种方法互为补充,在能完全验证设计的同时显著缩短了设计周期.