高g值加速度存储测试装置设计及实现

针对高速撞击和跌落等环境试验的离线存储测试需求,从设计灵活性出发,基于混合型SOC单片机,设计了一款高g值加速度存储测试装置。通过硬件电路设计及C8051F340单片机的固件程序设计实现了测试数据的采集及存储功能。基于LabVIEW 8.2设计了上位机应用软件实现了测量设置及数据回放及处理功能。经测试验证采集回放波形与激励波形一致。该装置可用于冲击、跌落等离线环境试验测试以及设备校准。

微小型、低功耗三轴高冲击存储测试装置

针对冲击试验与测试的冲击强度等参数越来越高,导致现有存储测试装置已不能完全满足特种测试、不适应新概念测试发展要求的问题,提出微小型、低功耗,掉电后仍然能完成采集和数据存储功能的三轴高冲击存储测试装置。存储测试装置以STM32G031为主控芯片,利用片内SAR-ADC实现模数转换,采用AD8226仪表运放实现增益放大功能。数据存储在容量为512 KB的FRAM中,采样速率100 kSps以上,采样精度12 bit。该装置的PCB板为直径22 mm的单片圆板,满足微小型要求,通过合理灌封和过载保护提高抗冲击性能。样机验证试验表明,该装置各模块功能正常,基本满足性能指标,功耗小于33 mW,掉电后可以仅凭电容储能工作700 ms,具有一定实用性。

基于USB接口的弹载数据测试存储装置的研究

本文介绍了一种基于USB接口的弹载数据测试存储装置的设计方案.借助于自带电池的大容量RAM,高速并行AD器件,在AVR单片机的控制下完成数据的采集、存储,最终通过USB接口电路联接到PC并高速读出数据.本方案的优点是在系统电源耗尽的情况下仍可保存数据并通过USB接口供电从而读出数据.