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宇航用NAND FLASH鉴定方法研究
1
作者
韩晓东
朱恒静
+1 位作者
张硕
张红旗
《质量与可靠性》
2014年第6期42-45,共4页
结合航天应用需求,在研究NAND FLASH特点、失效机理、可靠性特性以及辐射特性的基础上,给出了宇航用NAND FLASH的鉴定方法,可以为后续宇航用NAND FLASH鉴定以及应用验证工作提供借鉴。
关键词
宇航nand
FLASH
鉴定方法
应用验证
下载PDF
职称材料
题名
宇航用NAND FLASH鉴定方法研究
1
作者
韩晓东
朱恒静
张硕
张红旗
机构
中国空间技术研究院
首都航天机械公司
出处
《质量与可靠性》
2014年第6期42-45,共4页
文摘
结合航天应用需求,在研究NAND FLASH特点、失效机理、可靠性特性以及辐射特性的基础上,给出了宇航用NAND FLASH的鉴定方法,可以为后续宇航用NAND FLASH鉴定以及应用验证工作提供借鉴。
关键词
宇航nand
FLASH
鉴定方法
应用验证
分类号
V446 [航空宇航科学与技术—飞行器设计]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
宇航用NAND FLASH鉴定方法研究
韩晓东
朱恒静
张硕
张红旗
《质量与可靠性》
2014
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