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电子背散射衍射技术对疲劳铜单晶中的不同位错结构的取向变化的分析
1
作者
李勇
高薇
+1 位作者
苏会和
李守新
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第6期562-563,共2页
关键词
电子背散射衍射技术
铜单晶
循环
形变
位错组态
梯状位错结构
迷宫位错结构
宏观形变带
位错墙结构
下载PDF
职称材料
题名
电子背散射衍射技术对疲劳铜单晶中的不同位错结构的取向变化的分析
1
作者
李勇
高薇
苏会和
李守新
机构
中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家实验室
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第6期562-563,共2页
关键词
电子背散射衍射技术
铜单晶
循环
形变
位错组态
梯状位错结构
迷宫位错结构
宏观形变带
位错墙结构
分类号
TG115 [金属学及工艺—物理冶金]
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作者
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1
电子背散射衍射技术对疲劳铜单晶中的不同位错结构的取向变化的分析
李勇
高薇
苏会和
李守新
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003
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