基于斯托克位移的定量荧光强度测试仪

详细论述了荧光发生斯托克位移 (Stoke′sshift)的机理 ,运用荧光的斯托克位移现象确定激发光源的波长范围 ,为干涉滤光片的镀膜工艺提供了依据。并介绍了新近研制成功的医用定量荧光强度测试仪的测量原理、数学模型以及光学上的关键技术。最后指出了该仪器的应用前景。