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元器件缺陷率估计方法的研究
1
作者
邝志礼
《电子产品可靠性与环境试验》
1997年第6期2-7,22,共7页
准确估计元器件的缺陷率是开展定量环境应力筛选(ESS)的前提。本文阐述了我国元器件缺陷率的确定原则和计算方法,并利用所推导的计算公式,给出了我国各类元器件在不同质量等级、不同使用环境下的缺陷率(PPM)数据。
关键词
定量ess
元器件
缺陷率
电子设备
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职称材料
题名
元器件缺陷率估计方法的研究
1
作者
邝志礼
机构
电子工业部第五研究所
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1997年第6期2-7,22,共7页
文摘
准确估计元器件的缺陷率是开展定量环境应力筛选(ESS)的前提。本文阐述了我国元器件缺陷率的确定原则和计算方法,并利用所推导的计算公式,给出了我国各类元器件在不同质量等级、不同使用环境下的缺陷率(PPM)数据。
关键词
定量ess
元器件
缺陷率
电子设备
分类号
TN606 [电子电信—电路与系统]
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作者
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1
元器件缺陷率估计方法的研究
邝志礼
《电子产品可靠性与环境试验》
1997
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