为解决信息处理微系统中双倍速率同步动态随机存储器(Double Data Rate,DDR)复杂互连故障的检出效率和测试成本问题,通过分析DDR典型互连故障模式,将单个存储器件的自动测试设备(Auto Test Equipment,ATE)测试算法与板级系统的系统级测...为解决信息处理微系统中双倍速率同步动态随机存储器(Double Data Rate,DDR)复杂互连故障的检出效率和测试成本问题,通过分析DDR典型互连故障模式,将单个存储器件的自动测试设备(Auto Test Equipment,ATE)测试算法与板级系统的系统级测试(System Level Test,SLT)模式相结合,提出面向DDR类存储器的测试算法和实现技术途径。并基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)器件实现微系统内DDR互连故障的自测试,完成了典型算法的仿真模拟和实物测试验证。相较于使用ATE测试机台的存储器测试或通过用户层测试软件的测试方案,本文所采用的FPGA嵌入特定自测试算法方案可以实现典型DDR互连故障的高效覆盖,测试效率和测试成本均得到明显改善。展开更多
为解决传统测试管理模式存在的问题,提出一个测试工作信息化管理系统的原型方案。系统前端采用Element Plus和Vue.js技术,后端采用Java EE 8、Spring Boot、Mybitas技术,并采用MySQL数据库来存储和管理数据。所实现的系统能够统一管理...为解决传统测试管理模式存在的问题,提出一个测试工作信息化管理系统的原型方案。系统前端采用Element Plus和Vue.js技术,后端采用Java EE 8、Spring Boot、Mybitas技术,并采用MySQL数据库来存储和管理数据。所实现的系统能够统一管理测试任务和过程成果,提高测试工作的管理效率和数据统计分析效率,降低管理成本,还能够综合收集和分析测试数据,用于评估软件产品质量,还可为企业产品或项目考核提供辅助决策依据。展开更多
文摘为解决信息处理微系统中双倍速率同步动态随机存储器(Double Data Rate,DDR)复杂互连故障的检出效率和测试成本问题,通过分析DDR典型互连故障模式,将单个存储器件的自动测试设备(Auto Test Equipment,ATE)测试算法与板级系统的系统级测试(System Level Test,SLT)模式相结合,提出面向DDR类存储器的测试算法和实现技术途径。并基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)器件实现微系统内DDR互连故障的自测试,完成了典型算法的仿真模拟和实物测试验证。相较于使用ATE测试机台的存储器测试或通过用户层测试软件的测试方案,本文所采用的FPGA嵌入特定自测试算法方案可以实现典型DDR互连故障的高效覆盖,测试效率和测试成本均得到明显改善。
文摘为解决传统测试管理模式存在的问题,提出一个测试工作信息化管理系统的原型方案。系统前端采用Element Plus和Vue.js技术,后端采用Java EE 8、Spring Boot、Mybitas技术,并采用MySQL数据库来存储和管理数据。所实现的系统能够统一管理测试任务和过程成果,提高测试工作的管理效率和数据统计分析效率,降低管理成本,还能够综合收集和分析测试数据,用于评估软件产品质量,还可为企业产品或项目考核提供辅助决策依据。