基于最大容差域的容差设计方法

提出了基于最大容差域的容差设计方法。首先,给出了最大容差域的定义,分析了其性质与特点;然后,针对电路设计,以容差域体积为评价指标,基于电子设计自动化(EDA)工具利用优化算法来求解最优容差设计方案;最后,通过对某放大电路进行容差设计,验证了方法的正确性。该方法适合在电路设计的早期开展,克服了现有的基于公差-成本函数的容差设计方法的片面性,能更有效地实现电路健壮性的设计要求。

电路可接受域窗函数及样本点一阶矩轨迹

本文由大样本抽样效应,提出了电路可接受域的正态窗模型,导出了电路指标约束在元件参数空间映射的正态窗函数;提出了一阶矩轨迹的概念,并由此导出了中心值设计的叠代方程。与国外有关文献比较,本文导出的方法可使设计改善,并节省机时。

基于EDA的电路优化设计算法研究和应用

文单提出了一种用于虚拟电子电路实验室中电路优化的算法,该算法建立在统计分析的基础上,利用容差域伸缩与舍弃重叠区间相结合的方法,克服了该领域中现有的算法的缺陷,具有较高的优化速度和精度,并在作者参与开发的电子电路EDA虚拟实验室系统中取得了良好的效果。

超球面合格率——电路优化设计的重要判据

合格率是电路优化设计的重要判据,它通常都是用蒙特卡洛试验估计的,计算量很大。近来有人尝试用其它判据(如不对称程度),但都未取得令人信服的成果。本文提出了超球面合格率的概念,论证了在容差相同的情况下,超球面合格率越大,合格率越大,并推导出超球面合格率的估计计算不需增加许多计算量。因此用超球面合格率作为电路优化设计的判据,不但在理论上是行得通的,而且在实际分析中也是可行的。