一种反熔丝FPGA应用设计故障

由于反熔丝FPGA架构和实现原理的特殊性,反熔丝FPGA应用设计在物理实现时,存在一种易于发生、故障现象不稳定且具有一定隐蔽性的时序逻辑故障.通过对故障现象、诱因、原理的深入剖析,发现该应用设计故障与反熔丝FPGA的散出能力限制(Fanout limit)关联,并有针对性地提出了根除故障因素的解决方案.通过实测验证表明,本解决方案能有效消除该类应用设计故障.