数字系统设计中边界扫描测试诊断策略

本文介绍了边界扫描技术及其IEEE 1149.1标准。包括它的基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注。

边界扫描技术和IEEE 1149.1标准

本文介绍了边界扫描技术及其IEEE 1149.1标准。包括它的基本原理、硬件和软件技术，以期引起同行对BST这一在国内尚属起步阶段的技术的广泛关注。

基于JTAG的模块测试方法

简要阐述了边界扫描测试的基本用途,介绍了边界扫描的结构及特点;分析了JTAG的命令和使用方法、测试向量的生成方法;最后给出三个应用实例:使用JTAG对单个器件的测试,互连测试和对器件编程。

数字电路设计中边界扫描测试策略

可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片或系统设计中不可或缺的重要组成部分.它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑单元提高芯片的可测试性.本文介绍了边界扫描技术及其IEEE1149.1标准.包括其基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注.