基于模糊FMEA和灰色理论的中子管故障风险分析

中子管是一种应用广泛的可控中子源,然而目前国产中子管的可靠性水平与国外相比还有一定的差距。基于密封氘氚中子管的结构组成,采用模糊FMEA和灰色关联理论对中子管各个故障模式进行了风险分析,得出了中子管故障模式的风险水平及排序。研究结果表明:模糊FMEA方法和灰色关联理论可有效地用于密封氘氚中子管的故障风险分析,中子管故障风险前5位的故障模式为加速极高压加载异常、管体高压击穿、靶膜脱落、离子源阳极引线断路和管体焊缝开裂。