均匀性度量中的密集性偏差与稀疏性偏差

该文根据王元 ,方开泰[2 ] 的近似偏差 (discrepancy)的均匀性准则 ,定义了理想布点情况下的标准半径 ,定义了 m维单位子空间 Cm=[0 ,1 ]中两点间的 f距离和 g距离 ,由此定义了最大空穴半径和最小空穴半径 ,提出了均匀性度量的密集性偏差与稀疏性偏差 .给出了二维情况下的计算结果 .我们的方法计算量不大 ,不仅能较好地度量布点的均匀性以及布点在低维投影的均匀性 。