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粉末压片-X射线荧光光谱法测定富硅土壤和沉积物样品中的5种重金属元素
1
作者
陈春霏
卢秋
+4 位作者
姚苏芝
梁晓曦
洪欣
李丽和
韦江慧
《中国无机分析化学》
CAS
北大核心
2024年第5期513-520,共8页
X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中的重金属具有简便、快速、准确等优点,但现有的环境行业标准方法不适用于SiO 2含量大于80%的土壤和沉积物的测定。为提高X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中的重金属在环境监测领域中的适用性,建立基...
X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中的重金属具有简便、快速、准确等优点,但现有的环境行业标准方法不适用于SiO 2含量大于80%的土壤和沉积物的测定。为提高X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中的重金属在环境监测领域中的适用性,建立基于粉末压片-X射线荧光光谱法测定富硅土壤和沉积物中重金属的分析方法。通过选取富硅的土壤和沉积物标准物质提高校准曲线的测量范围以及优化各元素的测量条件,探讨基体效应和谱线重叠干扰、研究压片制样的最佳压力等途径,测定富硅土壤和沉积物中的Pb、Cr、Cu、Ni、Zn。结果表明,在已优化的测定条件下,通过延长校准曲线的测量上限,保证待测元素含量在校准曲线范围内,同时采用经验系数法和康普顿散射内标法校正基体效应,可进一步提高方法的准确度和精密度。方法比对结果显示,X射线荧光光谱法的测定结果与原子吸收光谱法的测定结果无显著性差异。选用2种不同的富硅标准物质进一步验证方法的精密度和准确度,Pb、Cr、Cu、Ni、Zn的测定结果与标准物质认定值的对数误差为0.002~0.08,相对标准偏差为1.0%~4.6%。方法的精密度和正确度满足土壤和水系沉积物环境监测分析的技术要求,具有良好的应用前景。
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关键词
X射线荧光光谱法
富硅土壤和沉积物
重金属元素
粉末压片法
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职称材料
题名
粉末压片-X射线荧光光谱法测定富硅土壤和沉积物样品中的5种重金属元素
1
作者
陈春霏
卢秋
姚苏芝
梁晓曦
洪欣
李丽和
韦江慧
机构
广西壮族自治区生态环境监测中心
出处
《中国无机分析化学》
CAS
北大核心
2024年第5期513-520,共8页
基金
广西自然科学基金资助项目(2021GXNSFAA075028)。
文摘
X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中的重金属具有简便、快速、准确等优点,但现有的环境行业标准方法不适用于SiO 2含量大于80%的土壤和沉积物的测定。为提高X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中的重金属在环境监测领域中的适用性,建立基于粉末压片-X射线荧光光谱法测定富硅土壤和沉积物中重金属的分析方法。通过选取富硅的土壤和沉积物标准物质提高校准曲线的测量范围以及优化各元素的测量条件,探讨基体效应和谱线重叠干扰、研究压片制样的最佳压力等途径,测定富硅土壤和沉积物中的Pb、Cr、Cu、Ni、Zn。结果表明,在已优化的测定条件下,通过延长校准曲线的测量上限,保证待测元素含量在校准曲线范围内,同时采用经验系数法和康普顿散射内标法校正基体效应,可进一步提高方法的准确度和精密度。方法比对结果显示,X射线荧光光谱法的测定结果与原子吸收光谱法的测定结果无显著性差异。选用2种不同的富硅标准物质进一步验证方法的精密度和准确度,Pb、Cr、Cu、Ni、Zn的测定结果与标准物质认定值的对数误差为0.002~0.08,相对标准偏差为1.0%~4.6%。方法的精密度和正确度满足土壤和水系沉积物环境监测分析的技术要求,具有良好的应用前景。
关键词
X射线荧光光谱法
富硅土壤和沉积物
重金属元素
粉末压片法
Keywords
X-ray fluorescence spectrometry
silicon-rich soil and sediment samples
heavy metals
pressed powder pellet method
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
粉末压片-X射线荧光光谱法测定富硅土壤和沉积物样品中的5种重金属元素
陈春霏
卢秋
姚苏芝
梁晓曦
洪欣
李丽和
韦江慧
《中国无机分析化学》
CAS
北大核心
2024
0
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