未来测试系统结构

在测试领域大量测试系统结构的存在使选择很易混淆,为此,总结了现存测试系统结构(GPIB、PC、VX I和PX I)的特点,并提出了一种新的基于LAN的测试系统结构。对各种测试系统结构的价格、通道数、尺寸、I/O速度和适应性等进行了比较,其目的是为未来的应用中提供最有效的测试系统。