粗糙表面轮廓的对角线切片谱分析

针对双谱估计存在的计算量庞大、估计精度较差、显示不够直观等缺点 ,提出了一种改进的对角线切片谱分析方法 ,并把它用于粗糙表面轮廓的非对称性和耦合性特征分析。实验结果表明 ,该方法简单、合理 ,而且有可能揭示加工过程中引起表面粗糙度间距和高度参数变化的原因。

粗糙表面轮廓谱的耦合性分析

双谱估计是分析随机信号的二次相位耦合、非线性、非对称性等特征的有效方法 ,但存在计算量庞大 ,估计精度较差 ,显示不够直观等缺点。本文提出了一种改进的对角线切片谱分析方法 ,并把它用于粗糙表面轮廓的非线性和耦合性特征分析。通过理论仿真研究和实验分析 ,结果表明这种方法简单、合理 。