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导弹电子舱VXI自动化测试系统的可靠性设计
1
作者
李银龙
《仪器仪表用户》
2008年第4期75-76,共2页
文章主要从军用设备可靠性的角度出发,详述了测试系统的设计过程,包括元器件的选型,系统方案的确定,并对信号调理电路的数学模型做出可靠性分析,计算出系统的MTBF(平均故障间隔时间),为系统的可靠性工作提供理论保证。
关键词
导弹电子舱
自动化测试系统
可靠性
MTBF
下载PDF
职称材料
题名
导弹电子舱VXI自动化测试系统的可靠性设计
1
作者
李银龙
机构
桂林电子科技大学电子工程学院
出处
《仪器仪表用户》
2008年第4期75-76,共2页
文摘
文章主要从军用设备可靠性的角度出发,详述了测试系统的设计过程,包括元器件的选型,系统方案的确定,并对信号调理电路的数学模型做出可靠性分析,计算出系统的MTBF(平均故障间隔时间),为系统的可靠性工作提供理论保证。
关键词
导弹电子舱
自动化测试系统
可靠性
MTBF
Keywords
missile electronic cabinet
auto-test system
reliability
MTBF
分类号
TP29 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
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1
导弹电子舱VXI自动化测试系统的可靠性设计
李银龙
《仪器仪表用户》
2008
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