排序法计算指数寿命型元件串联系统可靠性经典精确最优置信下限

对于样本点是离散的情况,可用对样本点排序的方法确定可靠性置信下限,排序有很多种,有L-P排序、序贯排序、极大似然估计排序、修正L-P排序等。本文提出一种具有直观合理性的新的排序方法,计算指数寿命型元件串联系统可靠性经典精确最优置信下限。

指数寿命型元件可靠性的经典精确置信限及Bayes近似置信限

设有指数寿命型元件，其寿命服从参数为λ的指数分布，λ未知。今有试验数据：在时刻ｔｉ，试验Ｎｉ次，成功Ｓｉ次，ｉ＝１，２，…，Ｋ，本文讨论基于数据：（ｔｉ，Ｎｉ，Ｓｉ）ｉ＝１，２，…，Ｋ求λ的经典精确置信限及Ｂａｙｅｓ近似置信上限的问题。

指数寿命型元件串联系统可靠性的置信限

设有失效率分别为λ_i(未知i=1,2,…n)的n个指数寿命型元件组成的串联系统;又设此系统中的每个元件有随机定时截尾寿命试验数据。基于元件的试验数据,给出了用修正的LP排序法计算此串联系统可靠性的置信下限的公式。