μ子寿命测量与高能物理实验创造性人才的培养

μ子寿命是高能物理领域一个可以精确推算，并能通过实验观测的物理量。在一个完整的μ子寿命测量实验中，涵盖了高能物理理论基础、高能粒子探测器、相关电子学和数据处理方法等方面的知识和一整套高能物理实验方法与工程技术。该文介绍了一套宇宙线仙子寿命测量实验装置的组建，并对该实验装置设置了开放性实验课程，对进行高能物理实验创造性人才培养的可行性和具体实施方法进行了探讨。

用于核态寿命测量的X-γ-γ定时符合系统

由两只ＢａＦ２闪烁探测器和一只高纯锗探测器组成的延迟符合系统适用于电子俘获衰变和Ｅ０跃迁生成的ｎｓ和ｐｓ量级激发态寿命测量。快符合涉及特征Ｘ射线和相应的级联衰变γ射线测量，系统具有元素和级联选择的优点。该系统对放射性核素１５２￣Ｅｕ进行测量，除得到Ｘ－γ－γ瞬发时间谱的半高全宽度外，还分别得到１２１．７８ｋｅＶ和３６６．４８ｋｅＶ能级的半寿命分别为１．３９５±０．０３５ｎｓ和４８±１０ｐｓ。结果表明该系统适用于Ｚ≥６２的电子俘获衰变研究。

放射性核素寿命测量系统

介绍了一个适用于中等衰变期核素的寿命测量系统,详细地描述了其测量原理和电路及软件实现。

μ子寿命测量实验

根据粒子的平均寿命测量原理,采用大面积塑料闪烁探测器和可编程逻辑器件设计了宇宙线μ子寿命测量的实验教学装置,使用该装置可实现对宇宙μ子寿命的直接测量.通过该实验,可使学生对高能物理理论、高能粒子探测器、高能粒子探测技术和数据获取、处理有整体的理解和认识.本文从实验教学内容和教学方法上对μ子寿命测量实验进行了探讨.

一种简便的μ子寿命测量实验设计

设计和研制了一种简便的宇宙线μ子寿命测量的实验装置.该装置采用大面积闪烁体探测器,利用可编程逻辑阵列(field program mable gatearray,FPGA),并通过电子学脉冲计数法,实现对宇宙线μ子的衰变寿命测量.测量结果与文献中给出μ子寿命精确值比较,误差小于3.5%.该实验原理及测量方法简单,测量条件要求不高,可用于大学物理实验教学.相关实验方法也可应用到其他一些粒子寿命及时间测量的实验中.

时间相关单光子计数荧光寿命测量中数据获取和处理

本文介绍了时间相关单光子计数荧光寿命测量中的数据获取系统和数据分析方法。

不稳定分子ZnH和ZnHg的寿命测量

不稳定分子ＺｎＨ和ＺｎＨｇ的寿命测量张培林，吴小光，李晶，赵朔嫣（清华大学现代应用物理，北京１０００８４）１ＺｎＨ分子的基态寿命研究激光激发Ｚｎ原子至亚稳态，再与ＨＺ分子碰撞产生处于基态Ｘ２的ＺｎＨ分子。此分子是一种不稳定分子，基态寿命为有限值。我们...

时间分辨荧光技术与荧光寿命测量

介绍了时间分辨荧光技术与荧光寿命的测量方法、意义及应用。

宇宙线μ轻子寿命测量实验和电子学设计

采用可编程逻辑器件,设计了一种新的读出电子学和逻辑电路,仅使用一个闪烁探测器配合该读出电路,实现对宇宙线μ子寿命测量。实验证明该读出方法不仅简便,而且有着很好的测量精度,可用于一些粒子寿命及时间测量的科学实验中。

碘分子E带离子对态的寿命测量

采用时间分辩技术，给出了碘分子Ｅ带Ｅ２离子对态（１８≤Ｖ≤２１）的辐射寿命。其值在９．５２至８．７４ｎｓ（Ｊ＝１０８）和８．２２至７．８６ｎｓ（Ｊ＝１０６）之间变化，这些辐射寿命所存在的数学模型上的微小绝对误差说明Ｅ２态的强ｇ／ｕ跃迁可能存在。

Fluorolog-Tou-3荧光光谱仪寿命测量统介绍

本文介绍了美国 EG＆G公司生产的 Fluorolog—Tau—3荧光光谱仪寿命测量系统的功能及其工作原理。

锗中少數載流子壽命測量方法的比較

引言我們在进行锗中少数载流子~*寿命的测量工作中,共采用了四种測量方法:“光电导衰退法”“双脉冲法”“曼納电桥法”“光磁效应法”。这些测量寿命的基本方法,不但适用于锗,也适用于其它半导体材料。利用光电导衰法”“双脉冲法”可以测量硅中少子的寿命。用“光磁效应”可以测量小于0.1微秒的短寿命。

K_s^0重建及其寿命测量在BESⅡ上的研究

在BESⅡ上利用Bhabha,dimu事例确定了BEPC束流对撞中心位置,并以此为初级顶点研究了次级顶点的重建,改进了原有次级顶点重建程序,在此基础上选择 事例,测量了Ks0的寿命,并利用50MJ/ψ数据测量了Ks0的单举质量谱,最后还利用MC研究了Ks0质量的1C拟合.

铝原子和离子4s^2S,5f^2F^0和4d^2D能级寿命测量

原子和离子参数是研究等离子体中的原子物理过程和动力学过程,以及等离子体诊断学的基础.目前,建立在加速器上的原子和离子参数的研究对象主要是重元素原子和离子,由于实验条件的限制,国内的实验研究开展得非常少 本工作根据在低能下较重或重元素的原子和离子参数研究少的特点,在200kV重离子加速器上采用束箔光谱学技术对铝元素的原子和离子能级跃迁光谱做了研究,对较强谱线的一些能级寿命做了测量,得到了4s^2S,5f^2F^o和4d^2D的寿命,4s^2S能级寿命与相位移方法测量结果相符合.对其研究,不仅对了解等离子体的光谱特性有重要意义,而且还可以与其他寿命测量方法比较,进一步了解60年代后发展起来的束箔光谱学这门边缘学科的应用.

碲镉汞材料少子寿命的微波反射光电导衰减测量

详细说明了用微波反射光电导衰减 (μ PCD)测量碲镉汞材料 (MCT)中少数载流子寿命的原理。μ PCD系统对样品少数载流子寿命的测量范围为 2 0ns至 3ms,测量温度可以从 80K到 32 5K变化 ,整个系统的测量由计算机控制自动进行 ,可以对样品进行X Y平面扫描测量并进行结果数据分析。同时 ,还报道了用 μ

掺钕材料激光终态能级寿命测量

介绍了目前测量掺钕材料激光终态能级寿命的三种方法,通过对三种测量方法比较,采用间接法测量激光终态能级寿命相对简单易行。

超短脉冲技术测量癌细胞荧光光谱与荧光寿命

研究用于癌症诊断与治疗的光敏剂血卟啉(hematoporphyrin derivative,HPD)的超快光动力学过程,采用超短脉冲激光光谱技术和皮秒时间相关单光子计数系统,测量经血卟啉培养的活体癌细胞与正常细胞的荧光光谱、荧光寿命特性及荧光峰值强度随时间变化曲线,并测量单一细胞内部不同位置的荧光寿命特性,观测到:癌细胞样品在645 nm处具有特有的光谱谱峰;癌细胞样品荧光寿命的快成分约150 ps慢成分约1200 ps,而正常细胞样品快成分约300 ps慢成分约2500 ps;癌细胞样品的荧光峰值强度经12小时衰减约10%,而正常细胞样品衰减约55%;在细胞内部荧光寿命300 ps的快成分十分显著,且中心部位血卟啉浓度最高。癌细胞与正常细胞的荧光光谱、荧光寿命特性及荧光峰值强度随时间变化曲线相差十分明显,反映了癌细胞与正常细胞对血卟啉亲和特性有显著的差异,测量结果确认了荧光光谱技术诊断与治疗癌症的可行性,并对发展超短脉冲激光光谱技术早期诊断与治疗癌症具有重要的指导意义和临床应用价值。

荧光寿命成像及其在生物医学中的应用

荧光寿命取决于荧光分子所处的微环境, 通过对样品荧光寿命的测量和成像可以定量获取样品的功能信息. 介绍荧光寿命成像(fluorescencelifetimeimaging, FLIM) 技术原理、实现途径、发展现状及其在生物医学中的应用. 提出一种基于皮秒扫描相机、梯度折射率微透镜阵列、棱镜分光光谱仪、飞秒钛宝石激光器和荧光显微物镜的新型五维荧光显微成像技术, 该系统具有多光谱分辨功能以及很高的时间和空间分辨率, 能够实现三维多光子荧光强度、光谱分辨强度和寿命测量, 将在高通量生化分析、组织鉴别、胞内生理学和荧光共振能量转移(fluorescenceresonanceenergytransfer, FRET) 等领域获得广泛应用.

基于皮秒时间分辨的癌细胞荧光寿命研究

研究了用于癌症诊断与治疗的光敏剂血卟啉(hematoporphyrin derivative,HPD)的超快光动力学过程,采用超短脉冲激光光谱技术和皮秒时间相关单光子计数系统,测量了经血卟啉培养的活体癌细胞与正常细胞的皮秒时间分辨荧光光谱及荧光峰值强度随时间衰变曲线,观测到:癌细胞与正常细胞样品荧光寿命的快成分分别为150和300 ps;癌细胞与正常细胞的荧光峰值强度经12 h分别衰减10%和55%。经对测量所得的荧光衰减曲线进行分析,计算出癌细胞与正常细胞的荧光寿命分别为824和1798 ps;血卟啉在癌细胞与正常细胞样品中滞留时间分别为17天和6天。结果表明癌细胞与正常细胞对血卟啉亲和性及对血卟啉滞留的稳定性有显著差异,测量结果确认了荧光光谱技术诊断与治疗癌症的可行性,并对实时监测生物样品微弱超快荧光具有重要的指导意义和临床应用价值。

荧光研究装置光测量系统的波长刻度

在 30 0nm～ 90 0nm范围内对荧光研究装置光测量系统进行波长刻度 ,并拟合出光波长刻度的外推公式。