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正电子寿命-动量关联技术
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作者 叶邦角 翁惠民 +1 位作者 周先意 韩荣典 《原子核物理评论》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期213-217,共5页
评述了国际正电子领域的新探测技术———寿命 动量关联技术.介绍了该技术的发展过程,讨论了该技术的分析方法,详细阐述了该技术在Ps形成和热化过程中的应用,并讨论了该技术在Ps化学上的应用.
关键词 正电子谱学 正电子偶素 寿命-动量关联技术 热化过程 探测技术 PS
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