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低碳含金阳极帽封接气泡的产生与控制
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作者 安白 马莒生 +1 位作者 汪刚强 唐祥云 《真空电子技术》 北大核心 1995年第3期40-43,47,共5页
本文研究低碳封接合金阳极帽产生封接气泡的原因及控制措施。结果表明,低碳含金阳极帽产生封接气泡,主要是由于氧化膜破损和封接温度偏高造成,其实质是由于氧化膜表面因破损产生凹坑、膜上附着物等缺陷,封接时这些地方吸附的气体未... 本文研究低碳封接合金阳极帽产生封接气泡的原因及控制措施。结果表明,低碳含金阳极帽产生封接气泡,主要是由于氧化膜破损和封接温度偏高造成,其实质是由于氧化膜表面因破损产生凹坑、膜上附着物等缺陷,封接时这些地方吸附的气体未能逃逸形成了气泡。通过降低封接温度和控制送料斗振动强度的措施,基本解决了封接气泡大量产生的问题。 展开更多
关键词 封接气泡 封接合金 电真空元器件 低碳合金
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