基于射束衰减网格的锥束CT散射校正方法

针对锥束CT系统的散射伪影,提出了一种新的散射校正方法:在X射线源和被检测物体之间放置一个射束衰减网格装置,据此推导出射束衰减网格钢珠小球中心投影位置上的散射值计算方法;对各小球中心投影位置上的散射值采用双三次样条插值得到相应的散射分布图像,从原始投影图像减去散射分布图像完成散射校正。通过圆柱样品和月牙样品验证了算法的可行性,结果表明该校正方法能有效减少由于散射引起的重建切片图像的杯状伪影,提高重建切片图像的对比度。

一种锥束CT散射场检测优化方法

针对采用射束衰减网格的散射校正方法需额外增加较大扫描量的问题,提出了基于局部极值点扫描的检测优化方法,首先采集少量用于计算散射图像的辅助投影图像,然后采用三次样条插值由少量不同扫描角度的散射图像计算出完整的圆周扫描散射图像集,最后通过与原方法获取的散射图像及散射校正切片图像的对比分析,评估该方法的可行性与可靠性。实验结果表明,该方法仅需获取原方法1/20的散射图像即可完成锥束CT的散射校正,使扫描效率提高了47.6%,同时将散射校正切片误差控制在1%之内。

基于平板探测器的锥束CT散射校正方法

针对基于平板探测器的锥束CT系统固然存在的散射伪影,提出在X射线源和被检测物体之间添加一个射束衰减网格装置的散射校正方法。本文首先介绍了射束衰减网格的实验装置,然后推导了基于射束衰减网格的锥束CT散射校正方法,最后通过圆柱样品实验验证了算法的可行性。实验结果表明,研究提出的散射校正方法能有效减少基于平板探测器的锥束CT系统散射伪影,提高了重建切片图像的质量。

工业X-CT散射校正技术综述

在工业X-CT成像系统中,散射现象对重建图像的质量有重要的影响,一直是CT研究的热点之一。随着工业X-CT系统的最新发展,锥束CT也逐渐被广泛应用,由于成像质量要求高,散射成二维分布,及新型平板探测器的应用,对散射校正带来更大的挑战。在传统的散射校正方法基础上,近几年出现了众多新的校正方法。本文首先分析了散射干扰的形成原理,介绍了散射评估方法,同时又对目前主要的几种校正方法进行了归纳总结,并对散射校正研究的发展趋势进行了展望。