目的探讨医用诊断X射线屏蔽材料防护性能的简易测量方法,为医用诊断X射线机房防护和开展基础研究提供可靠数据。方法采用AT1123型Χ-γ射线剂量检测仪结合铅准直器,在几何条件和曝光条件不变情况下,分别测量无和有屏蔽材料剂量当量,计...目的探讨医用诊断X射线屏蔽材料防护性能的简易测量方法,为医用诊断X射线机房防护和开展基础研究提供可靠数据。方法采用AT1123型Χ-γ射线剂量检测仪结合铅准直器,在几何条件和曝光条件不变情况下,分别测量无和有屏蔽材料剂量当量,计算衰减倍数。结果铅板厚度与衰减倍数的对数呈直线相关(100 k V,β=1.04,P<0.01;120 k V,β=1.05,P<0.01),铅板样品采用简易测量方法的测量结果与检定报告进行比对,误差为4.55%;不同管电压条件下,非铅屏蔽材料衰减倍数及铅当量检测结果不同,100 k V大于120 k V,铅当量随着材料厚度增加而增加,但铅当量与材料厚度不呈比例变化,不同材料变化比例不同。结论 X射线屏蔽材料防护性能简易测量方法能适用于日常使用的要求,方便测量屏蔽材料防护性能参数。展开更多
文摘目的探讨医用诊断X射线屏蔽材料防护性能的简易测量方法,为医用诊断X射线机房防护和开展基础研究提供可靠数据。方法采用AT1123型Χ-γ射线剂量检测仪结合铅准直器,在几何条件和曝光条件不变情况下,分别测量无和有屏蔽材料剂量当量,计算衰减倍数。结果铅板厚度与衰减倍数的对数呈直线相关(100 k V,β=1.04,P<0.01;120 k V,β=1.05,P<0.01),铅板样品采用简易测量方法的测量结果与检定报告进行比对,误差为4.55%;不同管电压条件下,非铅屏蔽材料衰减倍数及铅当量检测结果不同,100 k V大于120 k V,铅当量随着材料厚度增加而增加,但铅当量与材料厚度不呈比例变化,不同材料变化比例不同。结论 X射线屏蔽材料防护性能简易测量方法能适用于日常使用的要求,方便测量屏蔽材料防护性能参数。
