X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响

利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低角度下,特别是在特征X射线全反射临界角附近,实际测得的低能量特征谱线的相对强度比预期要小,这是因为这些低能量谱线的波长较长,相对于这些谱线的全反射临界角较大,由膜内产生的低能量谱线,探测器无法探测到而引起。此项研究为X射线薄膜微区分析的定量计算提供依据。

多元组份薄膜的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法

作者提出了入射电子在多元组份薄膜中所激发出的薄膜中各种元素的包括初次X射线和二次荧光在内的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法。用这一方法模拟计算了多个薄膜样品的特征X射线强度比 ,得到了与电子探针显微分析仪器测定的实验数据相一致的模拟结果。

84.5MeV^12C^4+离子诱发金属靶原子发射的Kβ与Kα-X射线强度比值的研究

本实验是在中国科学院兰州近代物理研究所,国家实验室的重离子加速器上完成的.实验用OR-TEC公司生产的HPGe X射线探测器测量了84.5 MeV的12C4+离子轰击Cu,Mo,Ag,Cd,In,Sn,W和Au金属靶产生的K壳层特征X射线谱,计算了Kβ与Kα-X射线强度的比值,并将结果与Scofield用Hartree-Fock-Slater模型计算出的理论值与用其它方法(如:衰变幅射,用光子,电子,质子等粒子与靶相互作用)得到的实验值进行了比较.比较结果表明用84.5 MeV的12C4+离子轰击Cu,Mo,Ag,Cd,In,Sn,W和Au金属靶产生的Kβ与K-αX射线强度比值比理论值和其它实验值要大许多.

射线照相检验中X射线强度衰减的数值分析

应用Kulenkampff的射线强度经验公式,对工业射线照相检测中的X射线连续谱强度及衰减特性提出了一种理论近似算法。以钢材为例,应用Newton-Cotes梯形数值计算方法,结合Matlab软件模拟计算,得到了不同能量的X射线的相对强度随材料厚度变化的吸收曲线,以及平均衰减系数、半值层及其变化曲线,并与射线强度衰减理论相符。通过在T=0时与解析计算结果比较,该计算方法偏差<3%,能满足射线检测技术的需要。研究结果表明,所采用的近似算法具有普适性和实用性,在射线照相检测过程中可以对各种材料的X射线衰减特性进行有效的理论分析。

同核异能跃迁的γ射线强度计算

文章涉及基于γ跃迁强度平衡的同核异能跃迁γ射线强度的计算方法,并以实例进行说明。文中给出了有关的物理自洽检验方法及其讨论。

核衰变射线强度和辐射能量的平衡

介绍了核衰变射线强度和辐射能量平衡的计算方法及以（１９８）Ａｎ的β衰变为例说明其实际应用。

射线强度衰减的解析分析

本文试图提出并证明用解析形式表述射线强度衰减。

对射线强度衰减律的一种理解

1 问题的提出提及辐射场中任何一点的射线强度时,都常涉及两个衰减因素,即:①距离衰减或称扩散衰减,衰减的定量适用平方反比定律.②射线穿过物质(厚度为T)后的衰减,其计算式如下I=I_0e^(-μT) (1)式中I_0——入射射线强度I——透过物质后的射线强度T——射线透过的物质厚度μ——物质对射线的衰减系数现在多将公式(1)称为射线强度衰减律.现在有些教材,在讲述射线强度衰减时,只讲到射线穿透物质T后的衰减,且假定射线束是平行的,见图1.

一类星体X射线强度骤增创新纪录

运用日本X射线探测卫星的天文学家发现,一类星体的亮度在3分钟内增加了67%,这是迄今在类星体看到的最快变化。天文学家们相信,类星体是位于新生星系中心、巨大发光的“发动机”。

对X射线照相法中射线透过物质后射线强度的定量计算

一、射线照相法原理射线探伤是利用射线可以程度不同的穿透物质后,在穿透过程中具有一定的衰减规律,并能使照相胶片发生感光或使某些化学元素和化合物发生荧光,来发现被检物体内部缺陷的一种探伤方法。目前,在焊缝射线探伤中,应用最广泛、灵敏度也较高的是X射线或X射线照相法。就拿X射线照相法来说,当一束X射线穿透物质时,因被物质吸收或散射。

X射线极光强度与亚暴指数AE的相关关系

研究了Polar卫星的极区电离层X射线成像仪(PIXIE)得到的极光X射线成像强度AI(AuroralIntensity)与磁层亚暴指数的相关关系.本文发现,在所选取的1997年至2001年的部分数据中,从完整的X射线图像得到的极光X射线总强度和AE指数有很好的线性相关关系,在全部83组数据中有56.6%的数据的线性相关系数都在0.60以上(相关系数最大为0.97).所以本文认为极光X射线总强度可以作为新的磁层亚暴卫星实时监测指数.

中重核中子辐射俘获γ射线强度函数研究

假设退激过程中除包含巨偶极共振模式外还存在6 He,6 Li,6 Be ,7Li和7Be等粒子集团激发态的退激过程 .本文对这一物理假定作了进一步分析 .利用据此建立的包括这些过程在内的γ射线强度函数 ,计算了在核素93Nb ,1 81 Ta和天然元素Ag上入射中子能量在 0 .0 1— 5MeV能区以及在核素1 97Au上入射中子能量在 0 0 1— 10MeV能区的中子辐射俘获反应截面和γ能谱 ,得到了与实验数据较好符合的结果 .特别是可以较好地解释γ能谱中 5 5MeV之后的反常突起 .这表明 ,上述物理假定适用于中重核中子辐射俘获反应 .

用X射线衍射强度测定纳米金刚石的德拜特征温度和熔点

采用陆学善、梁敬魁提出的方法 ,利用纳米金刚石的X射线衍射强度 ,计算出它的德拜特征温度为 41 1 .7K ,比高温高压合成出的大颗粒金刚石单晶的德拜特征温度 ( 2 2 0 0K)低了许多 ;且其原子晶格振动的振幅比高温高压合成得到的大颗粒金刚石单晶原子的振幅增大了 4.37倍 ;用Lindemann公式计算出纳米金刚石的熔点为 2 0 70K ,约为高温高压合成出的大颗粒金刚石单晶熔点 ( 4 40 0K)的一半。这将导致纳米金刚石原子间结合力的减弱 ,势必造成其活性的增大 ,从而引起物理。

低强度X射线影像系统的噪声分析及图像去噪处理

新型低强度X射线影像系统主要是由平板式单近贴静电聚焦X射线像增强器和CCD数据采集系统构成。根据系统的组成,分析了图像噪声来源,指出了它们的噪声整体为泊松分布规律的随机白噪声,局部也有正负脉冲干扰等特点,以此提出了处理该图像噪声的"多帧平均滤波+极值中值滤波"的复合算法。即先根据随机噪声互不相关的特点,将多幅图像叠加平均,突出有用信息,压缩噪声。再在改进标准中值滤波基础上,采用极值中值滤波,更好地去除噪声,保留细节。通过对峰值信噪比的计算表明,该方法明显优于任何单一算法,取得较好效果。

基于胶片密度的X射线透照强度分布

从射线强度的分布及胶片感光原理出发,利用辐射场黑度分布的近似函数,用Matlab画出了不同透照参数下(改变电压、电流、焦距、厚度)的黑度分布曲线。通过拍片实验,测出了实际数据,将Matlab画出的实际变化曲线与理论曲线进行比较,验证了实验结果的正确性,最后分析并得到了射线检测的主要技术参数对强度分布的影响。结果表明:管电压、管电流增大,焦距、透照厚度减小,可使有效辐射场的黑度差(即强度差)变大,均匀性变差。故在选择检测技术参数时(如高能射线检测、多工件透照等情况),除常规考虑外,也不能忽略技术参数对强度分布的影响,以符合射线检测技术标准对强度的规定。

CsI/MCP X射线阴极及其在低强度X射线影像仪中的应用

报道了X射线阴极的光电发射原理,给出CsI/MCP X射线阴极的制作方法。分析了反射式和透射式X射线阴极的量子效率和噪声特点,提出了改进工艺,给出CsI/MCP的输出特性和扫描电镜正面和剖面照片,且指出L ixiscope的发展以及在生物医学中的应用前景。

^(156)Eu衰变发射的γ射线绝对强度测量

经热中子辐照过的154 Sm样品 ,用离子交换法进行化学分离 ,得到放射性核素156 Eu。用 4πβ γ符合装置测量放射性活度 ,以及用HPGe和小平面Ge探测器测量γ射线数。通过这些测量 ,精确测定了156 Eu衰变发射的γ射线绝对强度。测量结果的不确定度小于 2 %。

掠发射X射线荧光强度的实验研究

文章探讨掠发射 X射线荧光强度与 X射线管阳极高压的关系。依据实验结果 ,掠发射 X射线荧光强度随 X射线管阳极高压的增大而增加 ,因此采用高的 X射线管阳极高压 ,有利于减小 X射线荧光的测量时间 ,提高掠发射

粉末多晶X射线衍射积分强度公式的研究

分析了粉末多晶X衍射积分强度公式常见推导方式中存在的问题 ,即近似条件不明确 ,物理图象欠清楚。采用本文总结的正空间———倒空间———正空间分段分析方法 ,提出了一个物理图象清晰的新的推导方式 。