期刊文献+
共找到5篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
高压电缆缺陷X射线无损检测技术研究
1
作者 刘建新 简磊 +2 位作者 陈长河 孙宝栋 杨龙飞 《运输经理世界》 2024年第17期165-168,共4页
为提高高压电缆缺陷检测结果的精准性,对X射线无损检测技术在高压电缆缺陷检测中的应用进行研究。首先,概述高压电缆缺陷X射线无损检测技术的应用意义;其次,探讨其质量控制问题;再次,针对检测技术的应用实际情况进行分析;最后,明确该技... 为提高高压电缆缺陷检测结果的精准性,对X射线无损检测技术在高压电缆缺陷检测中的应用进行研究。首先,概述高压电缆缺陷X射线无损检测技术的应用意义;其次,探讨其质量控制问题;再次,针对检测技术的应用实际情况进行分析;最后,明确该技术的发展趋势,以期提高高压电缆缺陷检测工作开展的整体质量。 展开更多
关键词 高压电缆缺陷 X射线无损检测技术 透照焦距
原文传递
管子——管板焊缝的射线照相无损检测技术
2
作者 顾尧 许章飞 《装备制造技术》 2019年第3期151-152,197,共3页
为了更好地应用射线照相无损检测技术,完成管子-管板焊缝工作,对该技术在实践中的运用进行了分析,并阐述这种无损检测技术对于焊缝操作的有效性,并陈述了技术运用的原理,为操作方法奠定基础,并对焊接技术的应用及要求以及具体实施步骤... 为了更好地应用射线照相无损检测技术,完成管子-管板焊缝工作,对该技术在实践中的运用进行了分析,并阐述这种无损检测技术对于焊缝操作的有效性,并陈述了技术运用的原理,为操作方法奠定基础,并对焊接技术的应用及要求以及具体实施步骤进行阐述,最后总结了射线照相无损检测技术发展前景,以及在焊接中应用的优势及对生态环境的影响。 展开更多
关键词 管子-管板焊缝 射线照相无损检测技术 底片扫描法 气孔
下载PDF
X射线无损检测的应用及发展趋势 被引量:11
3
作者 丁卫良 常华峰 +2 位作者 潘龙龙 杨绍辉 徐鹏飞 《科技创新与应用》 2020年第36期161-162,共2页
X射线无损检测是用于现代产品和设备质量检测的一种较重要的方法,在各个行业中得到了广泛应用。X射线检测是无损检测法中的一个门类。X射线检测主要是借助X射线穿透物质,由此发现工件不足的一种无损检测法。X射线无检测技术最初是以胶... X射线无损检测是用于现代产品和设备质量检测的一种较重要的方法,在各个行业中得到了广泛应用。X射线检测是无损检测法中的一个门类。X射线检测主要是借助X射线穿透物质,由此发现工件不足的一种无损检测法。X射线无检测技术最初是以胶片射线照相技术为主,历经长期的发展,现已发展成由X射线照相、X射线层成像、X射线实时成像等所组成的X射线检测体系,这对于产品及材料检测工作的有效开展非常有利。为此结合这些情况,文章重点对X射线无损检测的应用及发展趋势进行了深入的分析,首先对X射线无损检测原理和X射线无损检测方法分类及优缺点进行了阐述,之后在此基础上分别对X射线无损检测应用和其发展趋势进行了分析,望通过对这些内容的分析和探究可以为X射线无损检测效果的不断提升提供一定参考。 展开更多
关键词 X射线无损检测技术 检测原理 分类 应用 发展趋势
下载PDF
射线无损检测在石油化工压力管道的质量控制探讨
4
作者 张玉昌 《中文科技期刊数据库(引文版)工程技术》 2022年第12期179-181,共3页
石油化工产业的发展会直接影响到我国社会经济整体发展,由此可以看出,石油化工产业已经成为了我国支柱型产业之一。在正式开展石油化工生产工作时,压力管道系统发挥了重要作用,其主要被应用到各类工业石油资源的运输中,保证了石油运输... 石油化工产业的发展会直接影响到我国社会经济整体发展,由此可以看出,石油化工产业已经成为了我国支柱型产业之一。在正式开展石油化工生产工作时,压力管道系统发挥了重要作用,其主要被应用到各类工业石油资源的运输中,保证了石油运输综合质量,使得整个运输过程中石油资源受空间环境影响程度明显降低,因此,在开展石油化工压力管道系统建设施工其后续运行管理时,应该确定具有针对性的检测方式,以此来保障压力管道质量。基于此,本文尝试对射线无损检测这一检测方法在石油化工压力管道质量控制中的应用进行了探讨。 展开更多
关键词 射线无损检测技术 石油化工压力管道焊缝 质量控制
下载PDF
X光高分辨探测用CsI(Tl)晶体的蒙特卡罗模拟研究 被引量:5
5
作者 魏彪 周密 +2 位作者 冯鹏 米德伶 谭怡 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第9期1429-1434,共6页
提出了一种基于CsI(Tl)闪烁晶体和面阵CCD器件、采用光纤和光纤面板进行光耦合及传输、以扇形束线阵扫描方式实现对X光高分辨探测的方案。CsI(Tl)晶体的尺寸大小将直接影响到晶体的发光效率及X光的高分辨探测,据此开展了蒙特卡罗... 提出了一种基于CsI(Tl)闪烁晶体和面阵CCD器件、采用光纤和光纤面板进行光耦合及传输、以扇形束线阵扫描方式实现对X光高分辨探测的方案。CsI(Tl)晶体的尺寸大小将直接影响到晶体的发光效率及X光的高分辨探测,据此开展了蒙特卡罗模拟研究。模拟研究了X射线能量、X射线源到探测晶体的距离(源距)、CsI(Tl)晶体的厚度与X射线能量分布、全能峰效率与CsI(Tl)闪烁晶体转换效率之间的关系。结果表明,当X射线能量为120~450keV,CsI(Tl)晶体尺寸厚度为0~1.5cm变化时,全能峰效率的变化范围为31.34~96.74%,CsI(Tl)闪烁晶体的转换效率的变化范围为12.8~97.43%。可见,X射线的能量及CsI(Tl)闪烁晶体尺寸的厚度,是决定X光高分辨探测的重要参量,这对优化X光高分辨探测用CsI(Tl)晶体的尺寸设计具有一定的参考价值。 展开更多
关键词 X射线光学 工业计算机X射线层析术无损检测技术 X射线高分辨探测 CsI(Tl)闪烁晶体 蒙特卡罗方法
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部