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射频激励辉光放电粒子引入偏流、激发放射强度的增强系数
1
作者
孙素珍
张宏
+1 位作者
亚艳芝
王会娟
《承钢技术》
2006年第1期34-39,共6页
把直流偏流引入到辉光放射粒子中.可增大发射谱线强度。20-30mA的偏流电流通常可使拥有3—4ev激发能的原子谱线发射强度增加10-10倍。增强系数很大程度上取决于等离子气体压力和射频功率。具有大约5、7ev激发能的原子发射谱线强度提高...
把直流偏流引入到辉光放射粒子中.可增大发射谱线强度。20-30mA的偏流电流通常可使拥有3—4ev激发能的原子谱线发射强度增加10-10倍。增强系数很大程度上取决于等离子气体压力和射频功率。具有大约5、7ev激发能的原子发射谱线强度提高很多,增强系数超过50。然而与等离子条件无关,当激发能超过7ev时,发射谱线强度增加很小.
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关键词
辉光放电光谱仪
直流(d
.c)偏流
射
频
(
r.
f
.)等离子
增强系数
激发能
铜
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职称材料
射频磁控溅射生长C轴择优取向AlN压电薄膜
被引量:
8
2
作者
杨保和
徐娜
+2 位作者
陈希明
薛玉明
李化鹏
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第12期1430-1434,共5页
采用射频磁控反应溅射工艺,在Si(400)衬底上制备了高c轴取向的AlN薄膜。用X射线衍射仪(XRD)分析了薄膜特征。研究了不同的Ar/N2比、衬底偏压、工作压强对AlN薄膜c轴择优取向的影响。研究了AlN薄膜在以氮终止的硅衬底和纯净硅衬底两种表...
采用射频磁控反应溅射工艺,在Si(400)衬底上制备了高c轴取向的AlN薄膜。用X射线衍射仪(XRD)分析了薄膜特征。研究了不同的Ar/N2比、衬底偏压、工作压强对AlN薄膜c轴择优取向的影响。研究了AlN薄膜在以氮终止的硅衬底和纯净硅衬底两种表面状态的生长机制,发现在以氮终止的硅衬底表面生长的AlN薄膜非常容易得到c轴择优取向的AlN薄膜。
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关键词
ALN薄膜
射
频
(
r.
f
.)
择优取向
氮终止的硅衬底
原文传递
题名
射频激励辉光放电粒子引入偏流、激发放射强度的增强系数
1
作者
孙素珍
张宏
亚艳芝
王会娟
出处
《承钢技术》
2006年第1期34-39,共6页
文摘
把直流偏流引入到辉光放射粒子中.可增大发射谱线强度。20-30mA的偏流电流通常可使拥有3—4ev激发能的原子谱线发射强度增加10-10倍。增强系数很大程度上取决于等离子气体压力和射频功率。具有大约5、7ev激发能的原子发射谱线强度提高很多,增强系数超过50。然而与等离子条件无关,当激发能超过7ev时,发射谱线强度增加很小.
关键词
辉光放电光谱仪
直流(d
.c)偏流
射
频
(
r.
f
.)等离子
增强系数
激发能
铜
分类号
O6-0 [理学—化学]
O571.4 [理学—粒子物理与原子核物理]
下载PDF
职称材料
题名
射频磁控溅射生长C轴择优取向AlN压电薄膜
被引量:
8
2
作者
杨保和
徐娜
陈希明
薛玉明
李化鹏
机构
天津理工大学
出处
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第12期1430-1434,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(60576011)
天津市自然基金资助项目(05YFJZJC00400
+1 种基金
06TXTJJC14701)
天津市教委基金(2004ZD01)
文摘
采用射频磁控反应溅射工艺,在Si(400)衬底上制备了高c轴取向的AlN薄膜。用X射线衍射仪(XRD)分析了薄膜特征。研究了不同的Ar/N2比、衬底偏压、工作压强对AlN薄膜c轴择优取向的影响。研究了AlN薄膜在以氮终止的硅衬底和纯净硅衬底两种表面状态的生长机制,发现在以氮终止的硅衬底表面生长的AlN薄膜非常容易得到c轴择优取向的AlN薄膜。
关键词
ALN薄膜
射
频
(
r.
f
.)
择优取向
氮终止的硅衬底
Keywords
AlN thin
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r
ates
分类号
O484.1 [理学—固体物理]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
射频激励辉光放电粒子引入偏流、激发放射强度的增强系数
孙素珍
张宏
亚艳芝
王会娟
《承钢技术》
2006
0
下载PDF
职称材料
2
射频磁控溅射生长C轴择优取向AlN压电薄膜
杨保和
徐娜
陈希明
薛玉明
李化鹏
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
8
原文传递
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