微波器件射频可靠性筛选试验研究

微波器件的应用领域在不断扩大,对其可靠性也有着更高的要求。射频动态老化试验在其可靠性评估试验中至关重要。本文对微波混频器进行研究,对射频动态老化系统进行搭建,将负反馈电路引入设计中来加强系统的稳定性。采用微波器件软硬件平台来对该系统进行验证,结果表明该系统能够较好实现微波器件的动态老化过程,与静态老化相比有很大的进步。