射频器件超细引线键合射频性能仿真

随着雷达性能指标不断提高、体积不断压缩,作为其关键组成部分成之一的T/R(transmitter and receiver)组件也不断向小型化和高密度方向发展.采用超高密度引线键合技术能够实现高密度射频器件封装,但也会带来键合焊点可靠性下降、电路射频性能差等问题.针对键合线尺寸减小而引起射频性能下降的问题,采用HFSS软件探究了在0~20 GHz金带尺寸变化对电路射频性能的影响规律,并利用ANSYS Q3D和ADS软件对超细引线键合的电路进行阻抗匹配.结果表明,对于金丝和金带而言,插入微带双枝短截线匹配结构均能明显提高电路的射频性能.对于类型1结构,S21与S12的传输功率能达到-0.049 dB.对于类型2结构,S21与S12的传输功率能达到-7.245×10-5 dB,说明类型2结构下的信号传输几乎无损耗.该结果为超细引线键合技术在射频电路中的应用提供了理论指导.

利用键合线提高ESD保护电路射频性能的研究

提出了一种利用键合线提高ESD保护电路射频性能的新型片外ESD保护电路结构。该新型结构在不降低ESD保护电路抗静电能力前提下,提高了ESD保护电路射频性能。针对一款达林顿结构ESD保护电路,制作了现有ESD保护电路结构和新型ESD保护电路结构的测试板级电路,测试结果表明:两种ESD保护电路结构的抗静电能力均达到20 kV,现有ESD保护电路结构在0～4.3 GHz频段内衰减系数均小于1 dB,反射损耗系数均小于-10 dB,最高工作频率为4.3 GHz;新型ESD保护电路结构在0～5.6 GHz频段内衰减系数均小于1 dB,反射损耗系数均小于-10 dB,最高工作频率为5.6 GHz。

RF MEMS引线键合的射频性能和等效电路研究

针对一种用键合线连接的简单封装模型进行射频性能的模拟。用HFSS软件对不同长度、不同高度、不同直径以及不同间距的键合线进行模拟，总结出这些参数对键合线射频性能的影响．提出了由顶盖、CPW和键合线组成的简单封装结构的等效电路，并提取参数值．用Microwave Office软件对等效电路进行模拟，其S11在6～8GHz内与HFSS模拟的模型的S11相差2dB以内，其S21在1～10GHz内与模型的S21相差0．1dB以内．

金属栅功函数变异对纳米MOSFET模拟/射频性能影响的统计分析

当集成电路技术进入到纳米尺度,金属栅极上分布的晶粒显著减少,功函数变异(WFV)对MOSFET器件和电路性能产生重要的影响.文中通过偏差反向传播(POV)方法将功函数变异解析为平带电压标准差,建立22nm NMOS器件模拟/射频性能的统计分析,这些性能参数包括栅电容、跨导、截止频率和跨导效率.经HSPICE仿真分析结果表明:上述参数均受WFV影响产生随机波动现象,且参数变化相对标准偏差对栅电压非常敏感;从统计分布看,模拟/射频性能参数受WFV影响均偏离正态分布,但其概率统计特性却各有差异.

三防涂覆对印制电路射频性能影响探究

在印制电路表面进行的三防涂覆是一种广泛应用的防潮、防霉、防盐雾的工艺措施,但这种措施较少应用在工作于高频段的印制电路上。通过理论分析、仿真建模、样件试验等手段,探讨了三防涂覆对印制电路射频性能的影响。

雷达发射机射频性能分析

现代雷达发射机多半采用O型管放大链来放大固定载频信号，射频信号通过放大链会产生频率域或时间域失真。频率域失真是由放大链本身的非线性所引起的，而时间域失真主要是由幅度调制和相位调制引起的。

基于ATE的芯片射频性能测试研究

本文基于MBAV8+的测试方法,在实际应用中容易受到测试环境影响,造成增益值测试结果存在异常现象的问题,为此,开展基于ATE的芯片射频性能测试研究。首先,明确ATE测试设备以及被测芯片的基本内容,在此基础上,对电路板进行测试,利用ATE测试芯片发射性能以及芯片接收性能测试。通过实验证明,研究的测试方法抗干扰能力更强,能够得到芯片准确的增益值,进一步提高测试精度。

5G射频性能评估中的EVM空口测试方法

随着5G时代的到来,天线与射频接口高度集成,传统的传导测试已无法适应新一代无线通信设备的测试要求,越来越多的射频性能指标需要采用空口而非传导方式进行测试。以误差幅度矢量(EVM)为代表,射频性能指标对于传统的空口测试系统及方法提出了不同以往的要求。紧缩场、近远场变换等新系统被用于替代传统的远场测试系统。文章结合3GPP及近年的相关参考文献,介绍了几种5G射频性能测试的空口测试方法并做了比较,着重讨论了EVM的定义、测试流程和校准方法等问题,展望了射频性能测试的未来发展方向。

5G系统关键技术及其射频性能测试分析

5G是面向2020年以后的新一代移动通信系统,它是实现对现有移动通信技术的一个融合,通过技术的演进和创新,满足移动业务流量剧增的需求,解决4G移动网络面临的问题和挑战,从而构造一个高速的传输速率、高容量、低时延、高可靠性、优质的用户体验的网络社会。本文分析了支撑5G移动通信且备受关注的两大关键传输技术,即先进的频率利用技术以及大规模MIMO技术。并对基于这两大技术的引入给5G测试带来的挑战以及5G终端射频性能测试方法进行了分析和研究。

TETRA和GSM-R系统特点和射频性能分析

介绍了目前在欧洲轨道交通中应用比较广泛的两种数字调度通信系统TETRA和GSM-R的系统特点及射频性能。

CDMA基站射频性能测试

对影响CDMA网络质量的CDMA基站的主要射频指标及其测试进行了介绍。

蓝牙Mesh技术解读及蓝牙Mesh产品射频性能研究

随着智能家居的不断发展,越来越丰富的无线通信技术Wi-Fi、Zigbee、Z-Wave、NFC、NB-IoT、LoRa、2345G出现在了人们工作和生活中的方方面面,蓝牙这个工作在2.4GHz频段的短距离无线通信技术随着20多年发展,凭借自身优势,逐步形成了庞大的应用生态,蓝牙Mesh技术的引入,更是为短距物联网的发展插上了翅膀,在国内,阿里巴巴借助天猫精灵为媒介,采用蓝牙Mesh技术将整屋照明、电工、影音等集合在一起,大大促进了整屋智能的发展。本文详细介绍了蓝牙Mesh技术的发展和应用,并基于EN 300328等标准对应用蓝牙Mesh功能的产品进行射频研究,评估射频技术指标,以期为智能家居行业发展做技术指导,促进蓝牙Mesh更大的应用和发展。

连接器射频性能随温度变化的试验分析

本文通过对2.92型连接器在不同温度下射频性能的实际测试。通过试验及分析说明了连接器的射频性能随温度的变化情况。同时分析了不同试验方案对试验结果的影响。

Aeroflex推出新一代高性能触摸屏版信号源产品系列 S系列在简便性、便携性、模块化和射频性能方面实现全新突破

微电子器件和测试测量仪器的全球领先企业美国艾法斯公司（Aeroflex）日前宣布：其S系列射频信号发生器系列产品全面进入中国市场。S系列以极具吸引力的价格将易用性、便携性、模块化和射频性能集于一体,使艾法斯在射频信号源领域不断创新的卓著声誉通过S系列再一次获得巩固。

罗德与施瓦茨发布分析带宽更大和射频性能更强的全新R&S FSW系列

R＆S FSW高端信号和频谱分析仪日前已被用于各种测试应用场景,例如5G和WiFi无线通信设备的测试、汽车、国防与航天领域的雷达分析和卫星系统的测试。信号和频谱分析仪也可用于表征射频部件,如功率放大器。罗德与施瓦茨公司进一步改善了R＆S FSW系列的市场领先表现。

镍金镀层对射频性能的影响

以不同镍镀层厚度和不同镍金层化学成分的微波板，来简要分析最终镍金涂层对微带传输损耗的影响，另外相同试验的样板用不同的镍金成份和不同的镍金厚度制成，传输的损耗的Q值可以从串联在微带振荡器中测得，提出了用于两金属层体系导体传输损失的一个理论模型，理论上的计算已接近实际测量的结果，对于一种具体的频率，传输损耗相对镍厚度呈显S型波动。

研究课题“TD—SCDMA Home Node B的射频性能研究”获组内讨论通过

2010年4月21日～22日，无线通信技术工作委员会频率工作组（TC5 WG8）第38次会议在西安召开，共有44名代表参加了本次会议。