标签纱天线的阻抗测试及其准确性评价

为了解决标签纱天线的变形和差分夹具与天线间不良接触引起的阻抗测试结果准确性差的问题,改进了差分夹具的触点,并设计了系列控制因素实验确定影响阻抗结果的基本因素,制定实现天线阻抗准确、重复测量的规范化方法。结果表明,圆形触垫的引入提高了天线与差分夹具间接触的有效性且不会引入额外的测试误差。天线的弯曲曲率K和阻抗的测试位置与实际馈电点间距离(TD)的增加都会导致谐振频率减小,天线与差分夹具间压强(P,常通过差分夹具的下降距离DD调节)对阻抗测试结果无显著性影响,统计分析显示影响阻抗测试结果的因素主次顺序为K>TD>P(或DD)。验证实验表明,提出的阻抗测试操作程序具有良好的可靠性和实用性,为进一步优化设计标签天线的结构提供了参考。