非接触应用领域中与国际标准（ISO）兼容的射频身份识别器件（RFID）的生产测试

当今应用民电路在测试13.56MHz的非接触式应用芯片时，通常要在探针卡和器件接口板上增加很多外围电路，这限制了并行测试最多只能达到1到2路。我们在这里将讨论新的测试方案，新的测试方案体现在标准的自动测试设备中，直接通过天线的两脚进行高达32路的真实并行测试，并且无需附加外围电路。这种新的测试方案大幅度提高了产品质量及产量。