国产高Z闪烁晶体的辐照损伤研究

在总强度为105~Ci的^(60)Co γ射线辐照装置上开展了国产高Z闪烁晶体的辐照损伤研究.在5×10~3-7.5×10~5rad剂量范围内测量了小尺寸BGO晶体样品的辐照损伤效应,观察到损伤随剂量增加逐渐趋于饱和的现象;辐照损伤的自然恢复过程可用三组时间常数表征的指数函数描述.在5×10~5rad剂量下,考察了BaF_2,CsI(Tl)以及ZnWO_4晶体小尺寸样品的辐照损伤效应.发现了BaF_2的严重损伤情况,初步分析原因可能是晶体中某些微量杂质的存在.