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题名集成电路“小批量抽样试验”的若干具体方案
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作者
薛仁经
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机构
航天工业总公司
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出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1995年第3期48-53,共6页
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文摘
1 引言 国内外对“小批量抽样试验”,都在进行研究,其目的为了保证小批量产品的质量和应用可靠性,又减少抽样数量及试验费用,这是现实提出的问题。 例如对卫星、导弹等重点军工任务所用的元器件,订货的数量很少,要求很高,筛选很严,试验很多,责任很大。元器件生产厂对新产品必须做产品鉴定试验,对于老产品必须做质量一致性检验,这些试验抽样数有时远远大于订货数量,因而这些样品费及试验费远远大于订货交付的产品费。这笔费用要生产厂或用户承担都难以接受。
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关键词
集成电路
小批量抽样试验
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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