小角X射线散射波谱的定量作图分析法在作物淀粉研究中的应用

用小角X射线散射(small-angle X-ray scattering,SAXS)波谱可以定量分析淀粉的片层结构,但缺乏波谱数据分析软件而且需要专业的数学公式推导,严重制约了SAXS在淀粉研究中的应用。本文建立了一种简单的作图分析方法,可定量测定SAXS波谱中的淀粉片层结构信息(峰强度、峰位置、半峰宽度和片层距离)。我们用该方法定量测定了不同晶体类型淀粉、不同直链淀粉含量的水稻淀粉、酸不溶淀粉和热不溶淀粉的SAXS波谱参数。结果表明,片层结构与淀粉的植物来源有关,而与淀粉晶体类型没有直接的相关性。相同植物来源的淀粉,其直链淀粉含量与SAXS峰强度和半峰宽度呈显著负相关而与片层距离呈正相关。酸水解不影响淀粉片层厚度,但明显改变片层峰强度和半峰宽度。加热处理也不影响淀粉片层厚度,但破坏淀粉晶体结构导致片层峰强度随温度升高逐渐降低直至消失。该定量作图分析法操作简单、重复性好、可信度高,可以在作物淀粉研究中广泛应用。