现场STM针尖诱导Ag(111)表面局域刻蚀

本文报道用现场扫描隧道显微镜技术 (in situSTM)研究Ag( 1 1 1 )电极表面局域刻蚀。实验表明 ,STM针尖可以诱导有Iˉ特性吸附的Ag( 1 1 1 )电极在其电化学稳定区发生表面局域刻蚀 ,刻蚀的发生与程度与针尖电位、样品电位及偏压等因素有紧密关系 ,刻蚀速度在偏压最小时达最大。