氢化非晶硅局域态电荷密度的解析统一模型

本文发展了一种简明的氢化非晶硅（a－Si：H）局域态电荷密度统一模型。从a－Si材料的带隙态密度适配参数分布函数出发，采用Shockley－Read－Hall统计描述，推导出了局域态电荷密度统一的解析表达式，该模型同时考虑了带尾局域态和缺陷局域态的作用。最后将该解析模型与现有的发表结果进行了比较，并由此分析了非晶硅场效应晶体管的迁移率。这种模型是研究非晶硅中的电荷俘获过程及非晶硅器件（如a－Si：HTFT）特性的必要基础。

氢化非晶硅薄膜晶体管的静态特性研究

发展了一种研究a－Si：HTFT静态特性的新方法。从a－Si材料的带隙态密度适配参数分布函数出发，采用Shockley－Read-Hall统计描述，发展了一种局域态电行密度统一模型，该模型同时考虑了带尾局域态和缺陷局域态的作用。提出并分析了沟道区有效温度参数的概念，在此基础上，推导出了a－Si：HTFT电流—电压特性的解析表达式。其理论值与实验值符合很好。并详细分析了a－Si材料参数对TFTN态特性的影响。

半导体光学材料及制备

O472.1 97053431ZnS(111)表面电子结构研究=Study of the electronicstructure of ZnS(111)[刊,中]/班大雁,张海峰,李永平,方容川(中国科技大学物理系.安徽.合肥(230026))//物理学报.—1996,45(9).—1526—1535利用Muffin—Tin轨道线性组合(LMTO)法,采用slab模型计算了半导体ZnS(111)表面的电子结构,给出了总体、局域及分波态密度,分析了两种slab模型的表面稳定性和表面态。理论态密度曲线与ZnS(111)表面同步辐射光电子能谱相符合。图9参22(严寒)