数字电路的层次化测试生成新趋势

与传统的门级测试生成方法相比.数字电路的层次化测试生成方法采用层次化模块的方式,利用不同抽象级的电路信息,包括结构信息和功能信息,有利于加速测试生成,提高故障覆盖率.分析和综述了几类主要的层次化测试生成算法:预先生成低层模块测试法、模块在约束下直接生成全局测试法、高层模块动态展开法、高层软件测试与低层门级结构测试结合法等,并讨论今后有待解决的主要问题.