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无源核子料位计中脉冲峰值采样系统的设计
被引量:
2
1
作者
吴斯彧
顾玲娟
+1 位作者
瑚琦
张立成
《电子设计工程》
2010年第4期7-9,共3页
针对无源核子料位计中测量精度不高的问题,设计一种随机脉冲峰值采样系统。该设计通过比对不同类型的峰值检测电路,选取了跨导型脉冲峰值检测方案,在分析核脉冲波形的过程中结合探测器实际情况,推导出该检测系统的参数,实现带宽高达15 ...
针对无源核子料位计中测量精度不高的问题,设计一种随机脉冲峰值采样系统。该设计通过比对不同类型的峰值检测电路,选取了跨导型脉冲峰值检测方案,在分析核脉冲波形的过程中结合探测器实际情况,推导出该检测系统的参数,实现带宽高达15 MHz的随机峰值检测系统。最后通过Spice模型仿真,结果表明系统具有快速的频率响应、低失真性,从而证明此脉冲峰值系统可行性,能够有效提高无源核子料位计的测量精度。
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关键词
随机脉冲
无放射源核子料位计
跨
导
型
峰值
检测
OPA860
下载PDF
职称材料
InAlN/GaN/BGaN HEMT的高温直流特性研究
2
作者
耿立新
赵红东
+2 位作者
任星霖
韩铁成
刘赫
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2021年第10期1012-1016,共5页
对比分析了晶格匹配的InAlN/GaN与InAlN/GaN/BGaN高电子迁移率晶体管(HEMT)在不同温度(300~500 K)条件下的直流特性。结果表明,随着温度的升高,传统的InAlN/GaN HEMT器件表现出了严重的短沟道效应,具体表现在器件关断困难、栅控能力变...
对比分析了晶格匹配的InAlN/GaN与InAlN/GaN/BGaN高电子迁移率晶体管(HEMT)在不同温度(300~500 K)条件下的直流特性。结果表明,随着温度的升高,传统的InAlN/GaN HEMT器件表现出了严重的短沟道效应,具体表现在器件关断困难、栅控能力变差、阈值电压漂移以及亚阈值摆幅明显变大等。同时,由于电子限域性较差,传统的InAlN/GaN HEMT器件关态漏电现象严重。引入B摩尔分数为1.5%的BGaN缓冲层有利于InAlN/GaN HEMT器件在高温条件下仍保持较好的直流性能。当温度达到500 K时,InAlN/GaN/BGaN HEMT器件的阈值电压始终保持在-3.2 V左右,亚阈值摆幅为366 mV/dec,关态漏电流为3μA/mm,关断耗散功率为45μW/mm,均明显优于传统的InAlN/GaN HEMT器件。此外,相对于传统的InAlN/GaN HEMT而言,InAlN/GaN/BGaN HEMT器件的峰值跨导与饱和漏电流略低,但随着温度的升高,两器件的差距逐渐缩小。
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关键词
InAlN/GaN/BGaN
阈值电压
峰值跨导
亚阈值摆幅
下载PDF
职称材料
题名
无源核子料位计中脉冲峰值采样系统的设计
被引量:
2
1
作者
吴斯彧
顾玲娟
瑚琦
张立成
机构
上海理工大学上海市现代光学系统重点实验室
出处
《电子设计工程》
2010年第4期7-9,共3页
基金
上海市科委研发平台项目(08DZ2290900)
文摘
针对无源核子料位计中测量精度不高的问题,设计一种随机脉冲峰值采样系统。该设计通过比对不同类型的峰值检测电路,选取了跨导型脉冲峰值检测方案,在分析核脉冲波形的过程中结合探测器实际情况,推导出该检测系统的参数,实现带宽高达15 MHz的随机峰值检测系统。最后通过Spice模型仿真,结果表明系统具有快速的频率响应、低失真性,从而证明此脉冲峰值系统可行性,能够有效提高无源核子料位计的测量精度。
关键词
随机脉冲
无放射源核子料位计
跨
导
型
峰值
检测
OPA860
Keywords
random pulse
non-radioactive nuclear level indicator
transconductance peak detecting
OPA860
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
InAlN/GaN/BGaN HEMT的高温直流特性研究
2
作者
耿立新
赵红东
任星霖
韩铁成
刘赫
机构
河北工业大学电子信息工程学院
天津金沃能源科技股份有限公司
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2021年第10期1012-1016,共5页
基金
天津市科技计划项目(天津市企业科技特派员项目)(21YDTPJC00050)
光电信息控制和安全技术重点实验室基金(614210701041705)。
文摘
对比分析了晶格匹配的InAlN/GaN与InAlN/GaN/BGaN高电子迁移率晶体管(HEMT)在不同温度(300~500 K)条件下的直流特性。结果表明,随着温度的升高,传统的InAlN/GaN HEMT器件表现出了严重的短沟道效应,具体表现在器件关断困难、栅控能力变差、阈值电压漂移以及亚阈值摆幅明显变大等。同时,由于电子限域性较差,传统的InAlN/GaN HEMT器件关态漏电现象严重。引入B摩尔分数为1.5%的BGaN缓冲层有利于InAlN/GaN HEMT器件在高温条件下仍保持较好的直流性能。当温度达到500 K时,InAlN/GaN/BGaN HEMT器件的阈值电压始终保持在-3.2 V左右,亚阈值摆幅为366 mV/dec,关态漏电流为3μA/mm,关断耗散功率为45μW/mm,均明显优于传统的InAlN/GaN HEMT器件。此外,相对于传统的InAlN/GaN HEMT而言,InAlN/GaN/BGaN HEMT器件的峰值跨导与饱和漏电流略低,但随着温度的升高,两器件的差距逐渐缩小。
关键词
InAlN/GaN/BGaN
阈值电压
峰值跨导
亚阈值摆幅
Keywords
InAlN/GaN/BGaN
threshold voltage
peak transconductance
subthreshold swing
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
无源核子料位计中脉冲峰值采样系统的设计
吴斯彧
顾玲娟
瑚琦
张立成
《电子设计工程》
2010
2
下载PDF
职称材料
2
InAlN/GaN/BGaN HEMT的高温直流特性研究
耿立新
赵红东
任星霖
韩铁成
刘赫
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2021
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
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