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大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现
被引量:
3
1
作者
冉立新
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第1期27-30,共4页
图形发生系统是大规模集成电路高温动态老化测试的核心子系统。在此 ,采用可编程 ASIC技术成功实现了这一系统。在体系结构及性能指标方面做了很大改进的同时 ,极大地减小了系统的 PCB尺寸 ,首次实现了嵌入方式。
关键词
大规模集成电路
嵌入式图形发生系统
可编程ASIC
老化测试
下载PDF
职称材料
题名
大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现
被引量:
3
1
作者
冉立新
机构
浙江大学信息与电子工程学系
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第1期27-30,共4页
文摘
图形发生系统是大规模集成电路高温动态老化测试的核心子系统。在此 ,采用可编程 ASIC技术成功实现了这一系统。在体系结构及性能指标方面做了很大改进的同时 ,极大地减小了系统的 PCB尺寸 ,首次实现了嵌入方式。
关键词
大规模集成电路
嵌入式图形发生系统
可编程ASIC
老化测试
Keywords
IC Burn-in test Programmable ASIC
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现
冉立新
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
3
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