可编程逻辑阵列嵌入自测试设计

本文提出的设计方案,以极低的附加硬件资源覆盖了包括附加电路在内的所有单重固定故障、交叉点故障、邻线桥接故障和几乎所有的多重故障。同现今通行的设计方案相比,具有下列明显优点:1) 极低的附加硬件资源;2) 极高的故障被测度;3) 对可编程逻辑阵列的正常操作没有影响;4) 减少了测试延迟;5) 故障检测异常简单。

一种故障在线隔离技术在电子装备测试中的应用

为了解决在电子装备测试中无法正确隔离被测电子装备和测试设备间故障的难题,提出测试设备以通用平台为基础架构,在电子装备测试适配器中采用信号阵列切换技术,实现与被测电子装备的物理连接,电气断开,实现测试设备离线自诊断;利用嵌入式自测试技术,实现测试设备自身的实时自诊断,从而实现故障在线诊断和隔离。

VLSI可测性设计研究

从可测性设计与VLSI测试、VLSI设计之间的关系出发,将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起。文中简要地介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类,简明地评述了可测性设计的现状和发展趋势,并且探讨了可测性设计的实现方法。