先进的工程验证测试系统可以使复杂的设计在面市时间、成本和质量方面受益

中国半导体产业特别是集成电路制造和设计业有了突飞猛进的发展并成为全球的亮点。然而，与半导体技术发达的国家相比，中国的集成电路设计仍然处于起始阶段。寻找到一条从设计到测试的最佳方案可大大加快提高我国集成电路设计水平的进程。本文将着重介绍目前世界最为流行的一套先进的工程验证测试系统。全球前20家集成设计制造商(IDMs)大都采用此技术。

非侵入式光学探测技术加快硅片调试

包括激光电压探测和时间分辨发射技术的非侵入式光学检测方法,有助于设计工程师获取硅片成功,缩短产品进入市场的时间。