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一种基于MBE差分外延技术的SiGe低噪声放大器
1
作者
张静
李荣强
+6 位作者
刘伦才
李开成
刘道广
徐婉静
杨永晖
蒲林
谭开洲
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期569-571,594,共4页
采用MBE差分外延生长SiGe HBT基区,等平面隔离,多晶硅注入、快速退火形成发射区等工艺,实现了SiGe器件的平面集成。基于上述工艺技术研制的SiGe低噪声放大器(LNA),获得了1.7 GHz的带宽,23 dB的增益和3.5 dB的噪声系数。
关键词
分子束
外延
差分外延
锗硅异质结双极晶体管
低噪声放大器
下载PDF
职称材料
题名
一种基于MBE差分外延技术的SiGe低噪声放大器
1
作者
张静
李荣强
刘伦才
李开成
刘道广
徐婉静
杨永晖
蒲林
谭开洲
机构
模拟集成电路国家重点实验室中国电子科技集团公司第二十四研究所
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期569-571,594,共4页
文摘
采用MBE差分外延生长SiGe HBT基区,等平面隔离,多晶硅注入、快速退火形成发射区等工艺,实现了SiGe器件的平面集成。基于上述工艺技术研制的SiGe低噪声放大器(LNA),获得了1.7 GHz的带宽,23 dB的增益和3.5 dB的噪声系数。
关键词
分子束
外延
差分外延
锗硅异质结双极晶体管
低噪声放大器
Keywords
Molecular beam epitaxy
Differential epitaxy
SiGe HBT
Low noise amplifier
分类号
TN431.1 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN722.3 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
一种基于MBE差分外延技术的SiGe低噪声放大器
张静
李荣强
刘伦才
李开成
刘道广
徐婉静
杨永晖
蒲林
谭开洲
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2006
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