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一种基于MBE差分外延技术的SiGe低噪声放大器
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作者 张静 李荣强 +6 位作者 刘伦才 李开成 刘道广 徐婉静 杨永晖 蒲林 谭开洲 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2006年第5期569-571,594,共4页
采用MBE差分外延生长SiGe HBT基区,等平面隔离,多晶硅注入、快速退火形成发射区等工艺,实现了SiGe器件的平面集成。基于上述工艺技术研制的SiGe低噪声放大器(LNA),获得了1.7 GHz的带宽,23 dB的增益和3.5 dB的噪声系数。
关键词 分子束外延 差分外延 锗硅异质结双极晶体管 低噪声放大器
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